Gebraucht JEOL JSM 6060LV #9408117 zu verkaufen

JEOL JSM 6060LV Scanning Electron Microscope (SEM) ist eine Tischplatte SEM und ist eines der am meisten bevorzugten Modelle in industriellen Anwendungen und in Universitäten und Forschungslabors verwendet. JEOL JSM 6060 LV bietet eine Vielzahl von Funktionen und Funktionen, die es die perfekte Wahl für eine breite Palette von Anwendungen machen, von bildgebenden Proben in hohen Details bis zur Elementaranalyse. Mit einem Feldemissionskanonendesign und einem Strahl mit hoher Helligkeit ist das SEM auf eine optimierte Bildqualität ausgelegt. Das Rasterelektronenmikroskop ist mit einem InLens-Detektor ausgestattet und kann Sekundärelektronen und rückgestreute Elektronenbilder durchführen. Es hat auch eine große Kammergröße, die eine Probenanalyse von nichtleitenden Materialien in einem höheren Vergrößerungsbereich ermöglicht. Das Gerät wurde entwickelt, um eine einfache Bedienung und eine breite Palette von bildgebenden Verfahren zu bieten. Es hat eine extrem hohe Auflösung, die eine Auflösung von 4,5 nm bei einem Mindestarbeitsabstand von 9 mm erreichen kann. Das Gerät hat auch einen Niedervakuum-Modus, was bedeutet, dass es an nichtleitenden Proben ohne Vakuumkammer arbeiten kann. JSM 6060LV verfügt über eine Vielzahl von Musterhaltern, so dass der Benutzer eine Vielzahl von Anwendungen durchführen kann, einschließlich EDS, WDS, EDX, EBSD und STM-Mapping. Der maximale Kammerdruck ist niedrig (< 5×10−3 Pa) und zusätzlich ist das Gerät mit einem Auto-Alignment-System ausgestattet. Das Gerät verfügt auch über eine Bildnahtfunktion, die es dem Benutzer ermöglicht, zusammengesetzte Bilder mit 10 Mikron Genauigkeit zu erfassen. Darüber hinaus ermöglicht die fortschrittliche Software-Steuerung Feineinstellungen für eine Vielzahl von Anwendungen. Abschließend ist das JSM 6060 LV Scanning Electron Microscope ein leistungsstarkes, vielseitiges und einfach zu bedienendes SEM, das sowohl für Forscher als auch für industrielle Anwender eine gute Wahl ist. Das SEM bietet ausgezeichnete Leistung, mit seiner großen Auswahl an Probenhaltern, InLens-Detektor, ultra-hohe Auflösung, Low-Vakuum-Modus, Auto-Alignment-System und Bild-Nähen-Funktion. Das SEM eignet sich hervorragend für eine Vielzahl von Materialien und ist somit eine gute Wahl für zahlreiche Anwendungen.