Gebraucht JEOL JSM 6100 #201085 zu verkaufen

JEOL JSM 6100 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für die hochauflösende Bildgebung und Oberflächenanalyse verwendet werden kann. Es hat die Fähigkeit, entweder im Niedrig- oder Hochvakuum-Modus betrieben werden - so dass es für eine breite Palette von Anwendungen geeignet. Zu den Hauptkomponenten des Gerätes gehören eine Elektronenkanone, eine Elektronenoptik, ein Detektionssystem und eine Probenkammer. Die Elektronenkanone erzeugt einen Elektronenstrahl, der auf die gewünschte Energie beschleunigt wird. Die elektronenoptische Einheit fokussiert und formt den Strahl und bestimmt den Vergrößerungsgrad des Bildes. Die Detektionsmaschine erfasst die auf der Probe landenden Elektronen, was zu einem zweidimensionalen Bild der Oberfläche führt. Die Probenkammer ist dort, wo die Probe für die Bildgebung und Analyse platziert wird. Die Eigenschaften von JSM 6100 machen es gut geeignet für die Abbildung einer Vielzahl von Materialien. Es hat einen Beschleunigungsspannungsbereich von 1-30 kV und einen Vergrößerungsbereich von 10x-800kX. Dieser große Spannungs- und Vergrößerungsbereich eignet sich für die Abbildung von dünnen Filmen bis hin zu Submikronpartikeln. Es ist auch in der Lage, eine Vielzahl von Probenoberflächen abzubilden und zu analysieren, einschließlich empfindlicher Materialien wie Dielektrika und Polymere. JEOL JSM 6100 hat auch eine Reihe von Verbesserungsfunktionen, die es Benutzern ermöglichen, noch detailliertere Bilder zu erhalten. Es verfügt über einen integrierten Sekundärelektronendetektor, der es Anwendern ermöglicht, feinere Details einer Probenoberfläche zu unterscheiden. Es weist auch einen rückgestreuten Elektronendetektor auf, der in der Lage ist, einen Kontrast zwischen verschiedenen Materialstücken zu schaffen. Zusätzlich ist JSM 6100 mit einer automatisierten Bühne ausgestattet, die eine schnelle und einfache Probenpositionierung ermöglicht. Insgesamt ist JEOL JSM 6100 ein ausgezeichnetes Rasterelektronenmikroskop für hochauflösende Bildgebung und Oberflächenanalyse. Der hohe Beschleunigungsspannungsbereich und die großen Vergrößerungsgrade machen es für die Analyse einer Vielzahl von Materialien geeignet, während seine integrierten Detektoren und die automatisierte Stufe dem Benutzer noch mehr Details und Genauigkeit verleihen. Mit diesen Eigenschaften ist JSM 6100 ein wertvolles Werkzeug für jedes Mikroskopielabor.