Gebraucht JEOL JSM 6100 #293766593 zu verkaufen

JEOL JSM 6100 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das entwickelt wurde, um eine hochauflösende Bildgebung für den Benutzer bereitzustellen. Es ist in der Lage, hochauflösende Bilder bis zu einer Vergrößerung von × 400.000 mittels Sekundärelektronen- oder Rückstreuelektronenbildgebung zu erzeugen. Das Instrument ist auch mit einer Niedervakuum-Probenkammer ausgestattet, die eine einfache Probenmontage und Manipulation ohne die Notwendigkeit herkömmlicher UHV-Bedingungen ermöglicht. Darüber hinaus ist das Instrument auch zur Elektronenbeugung in der Lage, eine Technik, die oft verwendet wird, um die strukturellen Eigenschaften eines Materials zu untersuchen. JSM 6100 ist ein Analysewerkzeug mit einem LN2- gekühlten EDS-Detektor (Energy Dispersive Spectrometry), der in die Geräte integriert ist und eine hochauflösende Elementaranalyse von bis zu 10 nm ermöglicht. Dieses System verfügt auch über ein invertiertes optisches Mikroskop, das in der Lage ist, Bilder von Probenoberflächen bei Vergrößerungen bis zu × 2500 zu erfassen, um bei der Identifizierung und Ortung von interessanten Bereichen zu helfen. JEOL JSM 6100 wurde entwickelt, um die anspruchsvollsten SEM-Anwendungen mit seinem großen Kammervolumen und seiner überlegenen Vakuumeinheit zu bewältigen. Seine isotherme Multifunktionskammer ermöglicht es dem Anwender, auch bei Langzeitbeobachtung hervorragende Bilder und stabiles Vakuum zu erhalten. Die Kammer ist auch mit einem motorisierten Probenlader ausgestattet, der ein einfaches und schnelles Be- oder Entladen von Proben ermöglicht. JSM 6100 ist mit einer fortschrittlichen E-Strahl-Heizung ausgestattet, die eine konstante und homogene Probenheizung von RT zu 225℃ bietet; ermöglicht eine hochauflösende thermische Analyse wie XRD, XRR und TEM. Das Instrument ist zusätzlich mit Smart Beam Survey und Fine-Focus-Maschine ausgestattet, so dass Benutzer hochauflösende Bilder mit außergewöhnlicher Wiederholbarkeit erhalten. Das Werkzeug verwendet einen hocheffizienten E-Beam Blanker, der bei hoher Wiederholrate kurze Austastzeiten erzeugt, so dass in kurzer Zeit mehrere Bilder erhalten werden können. JEOL JSM 6100 ist ein ideales Werkzeug für Forscher, die nach hochauflösender Bildgebung, Elementaranalyse und Wärmeanalyse suchen. Sein anspruchsvolles Design und seine Vorentwicklung machen es zur perfekten Wahl für diese Anwendungen.