Gebraucht JEOL JSM 6100 #293816150 zu verkaufen

JEOL JSM 6100 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für die Bildgebung, Elementaranalyse und Oberflächenanalyse von Proben in industriellen, biologischen und materialwissenschaftlichen Forschungsanwendungen entwickelt wurde. JSM 6100 bietet eine Vielzahl von analytischen Fähigkeiten, um eine breite Palette von wissenschaftlichen Untersuchungen zu unterstützen. Das SEM verwendet eine hochvakuummonochromierte hochauflösende Feldemissionskanone (FEG) für verbesserte Bildauflösung, Kontrast und höheren Durchsatz. Die FEG ist für Kontrast- und andere Abbildungsparameter einstellbar und ermöglicht eine optimierte Auflösung und Reichweite des Bildes. Das Gerät verfügt über eine fortschrittliche Elektronik zur intuitiven und zuverlässigen Kontrolle des bildgebenden Prozesses. Das SEM ist mit einer umfassenden Suite fortschrittlicher Abbildungsmodi ausgestattet, einschließlich rückgestreuter Elektronenbildgebung (BSE), Sekundärelektronen (SE) und Kathodolumineszenz. Der BSE bietet eine hervorragende bildgebende Tiefenschärfe und eignet sich somit ideal für die Analyse von Oberflächentopographie und Färbung. Der SE-Modus erzeugt ein kontrastreiches Bild der Oberflächenmorphologie und eignet sich ideal zur Abbildung von Korn- und Rissmustern in harten Proben. Der SE-Modus ermöglicht auch eine quantitative elementare Analyse der Probe, die eine genaue Darstellung der elementaren Zusammensetzung der Probe bietet. JEOL JSM 6100 verwendet einen energiedispersiven Röntgenspektroskopie (EDS) -Detektor, um Elementaranalysen von Materialien durchzuführen. Das EDS bietet überlegene Auflösung, Empfindlichkeit und Energiediskriminierung, die herkömmliche EDS-Systeme nicht bieten können. Das EDS ist in die SEM-Mikroskopstufe integriert und ermöglicht eine schnelle und effiziente Abbildung von Elementen in Proben. JSM 6100 verfügt über ein raffiniertes Bildgebungssystem, das eine hervorragende Bildauflösung, Kontrast und Flexibilität für die Durchführung einer Vielzahl von analytischen Aufgaben bietet. Das Gerät ist in der Lage, Proben mit einer Auflösung von bis zu 1,5 nm abzubilden. Die Maschine ist auch mit einer automatisierten Probenstufe ausgestattet, die eine automatisierte Durchquerung und Kartierung von Proben ermöglicht. Die Automatisierung der Probenstufe verbessert den Durchsatz und die Genauigkeit der Bildaufnahme. JEOL JSM 6100 ist ein effizientes und zuverlässiges Werkzeug für eine Vielzahl von bildgebenden und analytischen Aufgaben. Die Anlage ist zuverlässig und erfordert wenig Wartung, was einen kostengünstigen und konsistenten Betrieb ermöglicht. Die Plattform ist auch mit fortschrittlichen Sicherheitsfunktionen ausgestattet, die eine optimale Sicherheit des Personals während des Betriebs gewährleisten. Die Kombination aus fortschrittlicher Bildgebung, Analyse und Automatisierung macht JSM 6100 zu einem idealen Modell für die industrielle, biologische und materialwissenschaftliche Forschung.