Gebraucht JEOL JSM 6100 #9147721 zu verkaufen

JEOL JSM 6100 Rasterelektronenmikroskop (SEM) ist ein Hochleistungs-Bildgebungsgerät, das in einer Vielzahl von Anwendungen wie Materialanalyse, Nanotechnologie und Life Sciences-Forschung verwendet wird. Dieses fortschrittliche SEM produziert hochauflösende Bilder mit einer maximalen Auflösung von bis zu 16 nm und bietet eine vollautomatische, ultraschnelle Bildaufnahme. Das SEM hat auch eine Vielzahl von Abbildungsmodi, wie rückgestreute Elektronen, Sekundärelektronen und Kathodolumineszenzabbildungen, die die Beobachtung einer Vielzahl von Probentypen ermöglichen. JSM 6100 verfügt über eine fortschrittliche Rasterelektronenoptik, die eine unübertroffene Bildqualität und unübertroffene Schärfentiefe bietet. Es kommt mit einem großen Sichtfeld, bis zu 55 mm Diagonale, und ist in der Lage, noch feinere Details über eine größere Fläche als rivalisierende Systeme zu erhalten. Das Instrument verfügt zudem über eine intuitive Benutzeroberfläche mit einem einfach zu bedienenden Touchscreen-Panel. Dies ermöglicht eine intuitive Bedienung und minimales Benutzertraining. Das SEM wird von einem Hochleistungsdetektor und einem hochauflösenden digitalen Videoerfassungssystem angetrieben. Darüber hinaus ist das SEM mit einer automatisierten Probenstufe mit einer Vielzahl von Probenhaltern sowie automatisierten Bühnenscannern ausgestattet. Dies ermöglicht die schnelle und einfache Erfassung großer Datensätze. Das SEM nutzt eine 10 keV bis 25 keV selbsteinstellbare Elektronenkanone, die es für eine Vielzahl von Anwendungen sehr vielseitig macht. Es verfügt über eine einzigartige Strahlverzögerungsschaltung, die Elektronen auf genaue Pegel beschleunigen und verzögern kann, um statische Aufladung in empfindlichen Proben zu beseitigen. JEOL JSM 6100 ist auch für vibrationsarmen Betrieb konzipiert, mit Geräuschpegeln unter 50dB, so dass es qualitativ hochwertige Bilder in einer Vielzahl von Umgebungen zu produzieren. Darüber hinaus verfügt es über mehrere externe Schnittstellen im PC-Stil und eine erweiterte Palette von Bildanalyse- und Auswertefunktionen. Insgesamt ist JSM 6100 ein leistungsstarkes und zuverlässiges Rasterelektronenmikroskop, das eine unübertroffene Kombination aus Bildgebungsleistung, Benutzer- und Umweltfunktionen bietet. Mit seiner fortschrittlichen SEM-Optikmaschine, der intuitiven Benutzeroberfläche und der vollautomatischen Probenphase ist JEOL JSM 6100 ideal für eine Vielzahl von Anwendungen geeignet.