Gebraucht JEOL JSM 6100 #9157307 zu verkaufen

JEOL JSM 6100 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das Sekundärelektronen (SE) verwendet, um hochauflösende Bilder von Proben in einem Elektronenmikroskop zu erzeugen. JSM 6100 ist ein variables Druck-Rasterelektronenmikroskop, das es dem Bediener ermöglicht, den Druck der Kammer von einem hohen Druck von 3 Pascals (etwa 2 Millitorr) auf einen niedrigen Druck von 10-6 Pascals (etwa 30 Nanotorr) zu variieren. Dieser Druckbereich ermöglicht die Abbildung nichtleitender Proben durch Verringerung des Ladeeffekts. Die Probenstufe kann 360 ° mit einem Neigungsbereich von -80 ° bis + 90 ° drehen und eignet sich somit ideal für schräge Bildgebung. Die Probenstufe kann den Bediener auch bei der Probenhöhenverstellung unterstützen. Die Probe kann in einen Halter gelegt und zur Objektivlinse angehoben werden, die einen kurzen Arbeitsabstand von nur 8mm hat, wodurch sie ideal für kleine Proben ist, die eine hohe Vergrößerung erfordern. Diese hohe Vergrößerung wird durch den Linsenvergrößerungsbereich von 5x bis 45.000x ermöglicht. JEOL JSM 6100 verfügt auch über zwei 30-kV-SE-Detektoren, die gleichzeitig verwendet werden können. Jeder Detektor hat einen Vergrößerungsbereich von 30x bis 20000x. JSM 6100 ist mit einem Everhart-Thornley Typ SE Detektor ausgestattet, der zur Abbildung leitfähiger und nicht leitfähiger Proben verwendet wird. Dieser Detektor verwendet einen Faraday-Becher, um die Elektronen-Rückstreuung und einen Festkörper-Detektor (TED) zu detektieren, um die Sekundärelektronen zu detektieren. Der Everhart-Thornley SE Detektor verfügt über einen großen Dynamikbereich und eine große Auflösung, um feine Details auf der Probenoberfläche hervorzuheben. Der Everhart-Thornley SE-Detektor kann mit dem zweiten Detektor, einer divergierenden Langemissionselektronenquelle (LEED), kombiniert werden, um den Detektionsbereich bis zur Atomwaage zu erweitern. Das LEED ermöglicht die Abbildung nichtleitender Oberflächen und die genaue Bestimmung der Kristallstruktur. Die LEED-Quelle verfügt über zwei Öffnungen mit manueller Steuerung und der Fähigkeit, den Emissionsstrom von 0-100 nA zu variieren. JEOL JSM 6100 ist ein leistungsstarkes Rasterelektronenmikroskop, das sich ideal für die Abbildung von Proben mit Auflösung im Nanometermaßstab eignet. Es ist in der Lage, nicht-leitende Proben mit ausgezeichneter Auflösung und Genauigkeit abzubilden. JSM 6100 ist ein ideales Werkzeug zur Abbildung von leitfähigen und nicht leitfähigen Oberflächendetails sowie zur Bestimmung der atomaren Struktur.