Gebraucht JEOL JSM 6100 #9219588 zu verkaufen

JEOL JSM 6100 ist eine Art Rasterelektronenmikroskop (SEM) für hochauflösende Bildgebung von Materialien bei niedrigen und hohen Vergrößerungen. Dieses leistungsstarke Analysewerkzeug kombiniert eine außergewöhnliche Kombination aus extrem hochauflösender Bildgebung, überlegener Schärfentiefe und hochempfindlicher Elementarerkennung mit einer breiten Palette von Probengröße und Formkompatibilität. Das Instrument kombiniert ein variables Rasterelektronenmikroskop mit einem ultrahochauflösenden Linsensystem. Die Elektronenkanone ist mit einem thermischen Filament mit niedrigem Vakuum ausgestattet und liefert eine primäre Elektronenstrahldicke von nur 0,2 nm. Diese hohe Präzision macht JEOL-JSM 6100 perfekt geeignet für Anwendungen, die hochauflösende Bildgebung und Oberflächenanalyse erfordern. Das einzigartige Vakuumpumpsystem ermöglicht die Evakuierung des Systems bis auf extrem niedrige Drücke, was die Produktion von qualitativ hochwertigen SE-Bildern (Sekundärelektronen) erheblich verbessert. Der Sekundärelektronendetektor ist mit einer variablen Abtastrate und einer dynamischen Apertur ausgestattet, was die Bildqualität und Flexibilität weiter erhöht. Der erweiterte SE-Detektor verfügt über ein Array von bis zu vier Detektoren mit jeweils einem Sichtfeld von 5 oder 10 µm, wenn bis zu 300.000 mal vergrößert. Dies ermöglicht die simultane SE-Bildgebung in mehreren Kanälen für fortgeschrittene Anwendungen wie Multi-Energy-Imaging und Elektronenstrahl-Lithographie. Zusätzlich ist JEOL-JEOL JSM 6100 mit einem optionalen Rückstreuelektronendetektor ausgestattet, der ihn für den Einsatz im ESEM-Modus (Environment SEM) geeignet macht. Neben seinen hochpräzisen bildgebenden Funktionen unterstützt JEOL-JSM 6100 auch eine breite Palette von Standard- und optionalen analytischen Funktionen, einschließlich energiedispersiver Röntgenspektroskopie und Kathodolumineszenz. JEOL-JEOL JSM 6100 ist mit seiner hochauflösenden Bildgebung, seiner überlegenen Schärfentiefe und seiner breiten Palette an analytischen Fähigkeiten ideal für die leistungsstarke Materialprüfung und -charakterisierung.