Gebraucht JEOL JSM 6100 #9224652 zu verkaufen

JEOL JSM 6100 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das zur Durchführung von Oberflächeninspektionen und Analyse einer Reihe von Proben entwickelt wurde. Es verfügt über ein hochauflösendes, großes Sichtfeld und ein variables Druckgerät, wodurch es für die Beobachtung und Analyse von Proben mit feinen geometrischen Strukturen gut geeignet ist. JSM 6100 hat eine maximale Leistung von 30 kV und eine maximale Vergrößerung von 90.000 mal. Das Mikroskop ist mit einer Feldemissionskanone (FEG) -Elektronenquelle ausgestattet, die im Vergleich zu anderen Quellen eine höhere Stabilität und höhere Energieausnutzung bietet. Dies ermöglicht eine überlegene Auflösung und Bildqualität. Das Mikroskop kann drei Arten von Scan-Daten bereitstellen, von echten Planansichten bis zu Tiefenprofilbildern. Zusätzlich steht ein digitales Bildsystem zur Beobachtung und Anzeige der Probe zur Verfügung. Die Probe kann für die Fotografie mit einer Reihe von Techniken vorbereitet werden, einschließlich strahlinduzierte Abscheidung, Beschichtung durch Sputterbeschichtung und chemische Dampfabscheidung. Mit einer Schnappschusszeit von weniger als zwei Sekunden ermöglicht JEOL JSM 6100 eine schnelle Verarbeitung von Proben und eine anschließende Anzeige. JSM 6100 bietet auch mehrere automatisierte Analysefunktionen. Dazu gehören drei spezialisierte Modi, die zur Durchführung von Backscatter-Bildgebung, EDX-Elementaranalyse und Elektronen-Back-Scatter-Beugung verwendet werden können. Darüber hinaus ermöglicht das Mikroskop eine automatisierte Ausricht- und Fokusregelung, so dass Probenausrichtung und optimale Fokussierung schnell und präzise erreicht werden können. Neben JEOL JSM 6100 bietet JEOL eine Reihe von Zubehör für die weitere Anpassung der Einheit. Dazu gehören verschiedene Vakuumkomponenten, wie ein Probenlader und eine Kammerheizmaschine; Mikroskopstufen, wie Schrittmotoren für die Probenbewegung; und Detektoren, wie Röntgen-, Sekundärelektronen-, Rückstreuelektronen- und Kathodolumineszenzdetektoren. Diese Komponenten können verwendet werden, um das Tool anzupassen und seine Funktionen an die spezifischen Anforderungen des Benutzers zu erweitern. Insgesamt ist JSM 6100 SEM ein leistungsfähiges, anspruchsvolles Asset, das für eine Reihe von Anwendungen verwendet werden kann. Seine hohe Auflösung, sein weites Sichtfeld und seine erweiterten Bildgebungs- und Analyseeigenschaften machen es ideal für die Beobachtung und Analyse von Proben mit feinen Details. Mit der Fähigkeit, Daten schnell zu verarbeiten und anzuzeigen, ist JEOL JSM 6100 SEM ein effizientes Werkzeug für die Oberflächenprüfung und -analyse.