Gebraucht JEOL JSM 6100 #9226960 zu verkaufen

JEOL JSM 6100 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) für hochauflösende Bildgebung. Es ist in der Lage, Bilder mit viel höherer räumlicher Auflösung als herkömmliche optische Mikroskope zu produzieren, was es zu einem leistungsstarken Werkzeug für die Untersuchung der nanoskaligen Strukturen vieler Materialien macht. JSM 6100 ist mit einer Feldemissionsrasterelektronenquelle (FESEM) ausgestattet, die ein besseres Signal-Rausch-Verhältnis und eine höhere Auflösung als SEMs mit thermischer Emission bietet. In der FESEM-Konfiguration hat es Auflösungsfähigkeiten bis zu 0,7 nm im Sekundärelektronenmodus und 1,5 nm im rückgestreuten Elektronenmodus. JEOL JSM 6100 verwendet eine Abtaststufe, die zweiachsige Ablenkspulen und computergesteuerte Probenmanipulation aufweist. Es hat einen 12 um Bewegungsbereich, der eine schnelle und genaue Bildgebung ermöglicht. JSM 6100 verfügt außerdem über einen großen Arbeitsabstand von 25 mm, der eine einfache Handhabung und Platzierung von Proben ermöglicht, ohne empfindliche Proben zu beschädigen. JEOL JSM 6100 kommt auch mit vielen erweiterten Bildgebungsfunktionen. Dazu gehören winkelgelöste Bildgebung, die eine präzise Abbildung der vielen KEs der Fläche ermöglicht. Es verfügt auch über eine Zusammensetzungsanalyse, die es ermöglicht, die chemische Zusammensetzung einer Probe leicht zu bestimmen. JSM 6100 bietet eine variable Druckabbildung, die eine Abbildung unter einem Bereich von Vakuumdrücken ermöglicht, wodurch Merkmale kleiner als die Auflösungsgrenze des Instruments eingehalten werden können. JEOL JSM 6100 ist mit einem EDS (Energy Dispersive Spectrometry) Detektor für die Elementaranalyse ausgestattet. Dieser Detektor ist in der Lage, Elemente aus dem Periodensystem bis unter 1% Nachweisgrenze zu detektieren. JSM 6100 verfügt auch über einen ultrahochauflösenden Bildgebungsmodus, der die Abbildung von Funktionen bis zu 0,3 nm ermöglicht. Insgesamt ist JEOL JSM 6100 ein leistungsstarkes und vielseitiges Rasterelektronenmikroskop mit zahlreichen fortschrittlichen Funktionen, perfekt für die Bildgebung und Analyse von nanoskaligen Strukturen.