Gebraucht JEOL JSM 6100 #9240232 zu verkaufen

JEOL JSM 6100 ist ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für die detaillierte Bildgebung und Analyse einer Vielzahl von Materialien entwickelt wurde. Es verfügt über eine beeindruckende Auflösung mit Vergrößerungsfunktionen bis zu einem Maximum von 50.000x. Das Mikroskop hat hochauflösende sekundäre Elektronbildaufbereitung, backscattered Elektronbildaufbereitung und mit hoher Auflösung Übertragungselektron Bildaufbereitung von Fähigkeiten, die verwendet werden können, um Oberflächen und Schnittstellen von Proben zu analysieren. Das Mikroskop ist außerdem mit einer autonomen Rasterstufe ausgestattet, die hochauflösende Computertomographie und 3D-Modelle von Proben erzeugen kann. Unterstützt wird dies durch die hochauflösenden, dreidimensionalen Visualisierungsfähigkeiten. Dieses Mikroskop hat auch eine große Kammer, die größere Proben aufnehmen kann. Der 6100 wird von einer benutzerfreundlichen Softwareplattform betrieben. Es verfügt über Skriptfunktionen, die eine Analyse vieler Proben auf einmal ermöglichen. Die Software bietet auch 3D-Bildrekonstruktionsmöglichkeiten sowie zweidimensionale statistische Analysen. Die Probenkammer ist mit einem robusten Probenhalter ausgestattet, der das Be- und Entladen von Proben erleichtern soll. Die Kammer weist auch Hochvakuumdrücke auf, die eine größere Bandbreite an Materialanalysen ermöglichen. Schließlich enthält JSM 6100 auch ein optionales energiedispersives Spektroskopiesystem (EDS). Dies ergänzt das Mikroskop um zusätzliche Fähigkeiten, einschließlich der kompositorischen Analyse von Proben. Es ermöglicht auch die Kartierung und quantitative Analyse von Proben. Abschließend ist JEOL JSM 6100 ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop, das für die präzise und detaillierte Abbildung von Materialproben entwickelt wurde. Es bietet eine Vielzahl von Funktionen, einschließlich hochauflösender Bildgebung, 3D-Visualisierung, autonomer Scanstufe und energiedispersiver Spektroskopie. Auf diese Weise können Forscher eine detaillierte Analyse von Proben bis auf atomare Ebene erhalten.