Gebraucht JEOL JSM 6100 #9257837 zu verkaufen

JEOL JSM 6100 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für eine Vielzahl von Anwendungen wie Bildgebung und Analyse entwickelt wurde. Es ist ein zuverlässiges und sehr vielseitiges Instrument, das seit seiner ursprünglichen Einführung in den frühen 2000er Jahren im Einsatz ist. JSM 6100 ist mit einer 5-Achsen-Kammer ausgestattet, mit der das SEM Bilder aus verschiedenen Blickwinkeln aufnehmen kann. Dies gibt unübertroffene Flexibilität und höchste Auflösung. Seine Eigenschaften umfassen die Unterbringung für Positionswechsel, um Bilder von verschiedenen Probenwinkeln von 0-60 ° aufzunehmen, gekoppelt mit einer 5-Achsen-Steuereinheit, die die Elektronensäule kontinuierlich für die genaue Abbildung von Funktionen mit hohem Seitenverhältnis ausrichtet. Der optische Zugang und die Schwingungsisolierung sorgen zudem für höchste Auflösung und Kontrast. JEOL JSM 6100 ist in der Lage, Auflösungsbilder im Nanometermaßstab und 3D-Volumendaten von Proben so dünn wie 1nm zu erfassen. Es wird häufig für fortgeschrittene Material- und Fehleranalysen wie die Charakterisierung von Transistoren, 3D-Messtechnik/Profilierungsanwendungen und die Visualisierung der Eigenschaften von Materialtypen verwendet. JSM 6100 eignet sich auch für die Untersuchung biologischer Proben wie Gewebe, Pflanzen und Pulver, die mit einem Lichtmikroskop schwer zu beobachten sind. Das Mikroskop ist mit einer Vielzahl von automatisierten Stufen ausgestattet. Dies beinhaltet eine breite Stufe, die große Probenflächen schnell scannen kann, und die Probenaustauschstufe, die eine schnelle und genaue Montage mehrerer Proben ermöglicht. Das Mikroskop verfügt zudem über ein integriertes Hochspannungsnetzteil, das zur Reduzierung von Betriebskosten und Wartungszeiten beiträgt. JEOL JSM 6100 enthält auch erweiterte Bildverarbeitungswerkzeuge, die die Bildqualität von MINT-Bildern verbessern und Strahlströme anpassen, um Umgebungsgeräte auf Probenoberflächen zu reduzieren. Darüber hinaus verfügt JSM 6100 auch über ein in-column EDS-System (Energy Dispersive Spectrometry) Datenerfassung und austauschbare Detektoren, die es dem Benutzer ermöglichen, elementare Analyse der Probe zu erhalten. JEOL JSM 6100 ist ein leistungsstarkes und zuverlässiges Rasterelektronenmikroskop, das für eine Vielzahl von Anwendungen geeignet ist. Seine Eigenschaften und Fähigkeiten machen es zu einem sehr vielseitigen Instrument, das den Bedürfnissen einer Vielzahl von Materialwissenschaftsforschern, Fehleranalysten und Biologen gerecht wird.