Gebraucht JEOL JSM 6300 #293658285 zu verkaufen

JEOL JSM 6300 Rasterelektronenmikroskop (SEM) ist ein Spitzeninstrument, das die neueste Rasterelektronen- und Beschleunigungstechnologie mit einer hochauflösenden Bildgebungs- und Probenanalyseleistung kombiniert. Es ist ideal für Forschungs- und Industrieanwendungen, bei denen eine schnelle und genaue Bildgebung und Analyse erforderlich ist. Das System ist in der Lage, 30kV zur 5MV der Beschleunigungsspannung für eine optimierte Auflösung und Kontrast zu erreichen, was zu einer sauberen Bilderzeugung ohne Strahlkorrektur führt. Seine hochauflösende Feldemissionskanone mit einer Spotgröße von 1 nm ermöglicht eine detaillierte Visualisierung kleinerer Partikel bei größeren Vergrößerungen. Es ermöglicht auch die Erfassung von Bildern für die Analyse und die Kombination mit einer Vielzahl von analytischen Programmen und Software. JEOL JSM-6300 Rasterelektronenmikroskop verfügt über eine automatisierte Universalstufe mit integriertem Neigungs- und Rotationssystem für 360-Grad-Probenansicht. Die Stufe ist kompatibel mit einer Vielzahl von Probenhaltern, wie einem Diamantgitterstummel, einem invertierten Probenhalter und einem abnehmbaren Gen-Rotation-Probenhalter, um die sichere Handhabung und Eindämmung von Proben zu gewährleisten. Erweiterte Bildgebungsfunktionen wie Multi-Focusing, Wide Field Image Transfer, Multi-Field Image Capture und Sequence Image Capture sind für eine nahtlose und effiziente Bildgebung verfügbar. Mit hochrangiger Bildverarbeitung, automatisierter Partikelzählung und Bildgebung und verzerrungsfreier Bildprojektion sowie vielseitigen Laborautomatisierungswerkzeugen ist JSM 6300 eine zuverlässige Plattform für Bildgebung und Analyse. JSM-6300 Rasterelektronenmikroskop ist auch mit einer CCD-Kamera für sekundäre Elektronenbilder ausgestattet, wobei Belichtungsparameter für optimale Helligkeit, Kontrast und Auflösung einstellbar sind. Die Kamera verfügt über einen globalen internen Verschluss mit einem genauen Timing-System und Frame Transfer CCD für schnelle Bildaufnahme. Neben seinen renommierten bildgebenden Fähigkeiten ist JEOL JSM 6300 SEM auch mit analytischen Komponenten ausgestattet, wie einem Dual-Detektor für Energy Dispersive X-Ray Spectrometry (EDS) und Electron Backscatter Diffraction (EBSD). Der EDS-Detektor bietet überlegene Auflösung und Dynamikbereich mit automatischer Probenschaltung für verbesserte Analysegeschwindigkeit und Genauigkeit. Der EBSD-Detektor bietet eine schnelle elementare Kartierbarkeit für Proben mit komplexen Texturen und Zusammensetzungen. Schließlich wird JEOL JSM-6300 SEM mit einer intuitiven Touchscreen-Benutzeroberfläche und einem einzigartigen 3D-Navigationsfenster gesteuert. Diese erweiterte Software-Suite ermöglicht es Forschern, alle Arten von Bild- und Analysedaten für eine umfassende und effiziente Analyse zu verwalten und zu manipulieren. Darüber hinaus eignet sich JSM 6300 für eine Vielzahl von Anwendungen wie Halbleiterbauelementinspektion, Oberflächenmesstechnik und Materialforschung.