Gebraucht JEOL JSM 6300 #293750615 zu verkaufen

JEOL JSM 6300 ist ein hochmodernes Rasterelektronenmikroskop (SEM), das Anwendern die höchste Auflösung für bildgebende und analytische Funktionen bietet. JEOL JSM-6300 verfügt über eine Ultra-High-Vacuum (UHV) -Kammer für ultrahochauflösende Bilder bis zu 5 nm und ist mit integrierten Funktionen und Präzisionswerkzeugen ausgestattet, die für die Erledigung der Arbeit benötigt werden. Die Feldemissionskanone (FEG) mit Inlinsen-Sekundärelektronendetektor erzeugt sehr niedrigen Elektronenstrom, so dass der Benutzer sehr hochauflösende Bilder mit niedrigen Abtastraten erzeugen kann. Der In-Linsen-Detektor hat einen hohen Durchsatz und einen geringen Kammerhintergrundbeitrag, was einen tieferen Einblick in die zu inspizierende Probe ermöglicht. JSM 6300 SEM enthält eine hochqualitative CCD-Kamera (Charged Coupled Device) zur Aufnahme niedriger Vergrößerungen und höherauflösender Bilder. Die CCD-Kamera ist direkt mit dem Detektor in der Probenkammer gekoppelt und ermöglicht Vergrößerungen bis zu 7000x. JSM-6300 enthält auch einen EDS (Energy Dispersive Spectrometer) -Detektor, der eine elementare Analyse einer Probe bereitstellen kann. Der Detektor ist in das SEM integriert und ermöglicht die Identifizierung und Abbildung von Elementen innerhalb einer Probe mit hoher Auflösung. JEOL JSM 6300 enthält auch eine automatisierte Stufe, die verwendet werden kann, um eine Probe um die Kammer zu bewegen, so dass Benutzer die Möglichkeit, verschiedene Bereiche einer Probe abzubilden, ohne die Probenposition manuell einstellen zu müssen. Zusätzlich kann die Bühne programmiert werden, um Spuren und Linienabtastungen über die Oberfläche der Probe durchzuführen. Die Kombination der in JEOL integrierten Funktionen JSM-6300 den Anwendern die Möglichkeit geben, eine sehr hochauflösende Abbildung von Proben zu erstellen sowie genaue Analysen von Proben durchzuführen. Mit der Fähigkeit, Proben in nanoskaliger Auflösung abzubilden und zu analysieren, ist JSM 6300 das ideale Werkzeug für die fortschrittliche Mikroskopie und Elementaranalyse.