Gebraucht JEOL JSM 6300 #293777677 zu verkaufen

JEOL JSM 6300 Rasterelektronenmikroskop (SEM) ist ein vielseitiges und leistungsstarkes bildgebendes Werkzeug für eine breite Palette von wissenschaftlichen Analysen und Forschung verwendet. Dieses hochauflösende Instrument verwendet Elektronen, um detaillierte Bilder von Oberflächen und Objekten zu erhalten, die viel feiner sind, als ein Standard-optisches Mikroskop erzeugen kann. JEOL JSM-6300 kann große Bereiche mit einer Mindestauflösung von 0,9 Nanometer (ein Milliardstel Meter) exakt „scannen“, was einen beispiellosen Detaillierungsgrad und Einblick in eine Probe bietet. Zusätzlich verwertet JSM 6300 einen eingebauten backscattered Hochleistungselektronentdecker, der ermöglicht, von großen Proben mit einer Tiefe der Feldreihe von 2-20 Mikrometer (um) darzustellen. Für die Beispielcharakterisierung und -analyse bietet JSM-6300 eine Reihe von Funktionen und Zubehör. Dazu gehören ein hochauflösender MINT-Detektor, ein energiedispersiver Röntgendetektor (EDX), eine Elektronen-Rückstreuung (EBSD) und eine Reihe von SEM-Zubehör. Der CCD-Detektor mit zwei Funktionen des Mikroskops Princeton Instruments kann sowohl Photoelektronen als auch rückgestreute Elektronen aufzeichnen und so Bilder liefern, die sowohl einen Kontrast zum Detail (CSB) als auch einen topographischen Kontrast bieten. Es enthält auch einen Z-Kontrast-Modus, der den über die CCD-Kamera verfügbaren Detailkontrast erhöht. JEOL JSM 6300 ist hochautomatisiert und somit ideal für anspruchsvolle Forschungsszenarien. Der Autofokus und die eingebaute automatische Ausrichtung beschleunigen den Bildgebungsprozess und ermöglichen eine schnelle und genaue Abbildung von Probenmerkmalen. Das Mikroskop verfügt darüber hinaus über eine hochwertige Mehrkanal-Live-Bildgebung, die eine Fehlerbehebung und -analyse ermöglicht, ohne das Bildaufnahmefenster zu verlassen. Das Mikroskop ist in der Lage, einen weiten Bereich von Vergrößerungswerten von 1X bis 20,000X zu erzeugen. Dadurch wird sichergestellt, dass der Forscher detaillierte Bilder sowohl von sehr kleinen Merkmalen als auch von großen Flächen erzeugen kann. Das Mikroskop ist ferner in der Lage, große Flächen einer Probe bis 2000 mm x 2000 mm zu scannen, was eine hervorragende Abdeckung großer Proben ermöglicht. Schließlich ist JEOL JSM-6300 mit einer intuitiven, benutzerfreundlichen Oberfläche ausgestattet. Die Software enthält eine Vielzahl von interaktiven Tools und Tutorials, die den Benutzer leiten und sicherstellen, dass er Bildgebungs- und Analyseaufgaben schnell und genau ausführen kann. Dies vereinfacht den Workflow und erhöht das Verständnis des Anwenders für das Mikroskop und verbessert so seine Produktivität.