Gebraucht JEOL JSM 6300 #9314149 zu verkaufen

JEOL JSM 6300 ist ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop (SEM) für hochauflösende Bildgebungs- und Analyseanwendungen. Es ist in der Lage, überlegene Bildqualität und räumliche Auflösung im Vergleich zu herkömmlichen optischen Mikroskopen zur Verfügung zu stellen. JEOL JSM-6300 verfügt über einen großen 17,0 cm x 11,5 cm großen Sekundärelektronendetektor mit einer Pixelgröße von 25,4 μ m und einen 4,2 cm x 4,2 cm rückgestreuten Elektronendetektor mit einer Pixelgröße von 9,2 μ m. Das System ist mit einer Ultrahochvakuum (UHV) -Stufe mit einem geräuscharmen UHV-Probenhalter ausgestattet, mit dem sowohl trockene als auch nasse Proben ohne Kontamination abgebildet und analysiert werden können. Darüber hinaus ist das System in der Lage, große Tiefenschärfebilder zu erzeugen, die es Anwendern ermöglichen, detaillierte Bilder großer Oberflächen zu erhalten. Neben Bildgebungs- und Analysefähigkeiten bietet JSM 6300 auch verschiedene Arten der Spektroskopie, einschließlich der E-Linien- und Wellenlängen-dispersiven Röntgenspektroskopie (WDS). Die E-Line-Spektroskopie wird zur Elementaranalyse verwendet, indem die Energie spezifischer Röntgenstrahllinien, die von der Probe emittiert werden, gemessen wird. WDS wird für die Oberflächenanalyse verwendet, indem mehrere Röntgenlinien zur Messung sowohl der elementaren Zusammensetzung als auch der Verteilung verwendet werden. JSM-6300 beinhaltet auch eine integrierte E-Pistole, eine Niederspannungs-Elektronenkanone, die für extrem niedrige Hintergrundgeräusche und erweiterte Betriebsparameter ausgelegt ist. So erhalten Anwender kontrastreiche Bilder mit ausgezeichneter Gleichmäßigkeit über große Flächen. JEOL JSM 6300 ist ein leistungsstarkes Rasterelektronenmikroskop, das ausgezeichnete Bildqualität, Auflösung und Analysefunktionen bietet. Es eignet sich für eine Vielzahl von Anwendungen, darunter Halbleiter- und materialwissenschaftliche Forschung, Metallurgie und Fehleranalyse, sowie Life Sciences.