Gebraucht JEOL JSM 6300F #116159 zu verkaufen

JEOL JSM 6300F ist ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop (SEM) für Hochleistungs-Bildgebung bei Sub-Nanometer-Auflösungen. Es hat eine ultrahohe Auflösung sowohl für Rasterelektronenmikroskopie (SEM) als auch für Transmissionselektronenmikroskopie (TEM) Anwendungen. Das robuste und vielseitige Design von JSM 6300F ermöglicht High-Speed-Imaging mit hohem Durchsatz, niedrigen Kosten und extremer Genauigkeit. JEOL JSM 6300F ist mit einer ultrahochauflösenden Feldemissionskanone (FEG), einer großen Kammer mit großem Polstück und einem leistungsstarken elektronenoptischen System ausgestattet. Es bietet eine Vielzahl von Strahlstrom und Arbeitsabstand Optionen, so dass Benutzer ihre gewünschten Bildgebungsziele zielen. Dieses Mikroskop umfasst auch erweiterte Funktionen wie EDAX (Energy Dispersive Analysis Röntgenstrahlen), automatisierte Navigation und Ausrichtung, eine automatisierte Phase für die Probenvorbereitung und ein Mehrstrahl-Detektionssystem für die integrierte Bildgebung. Die große Kammer und das verbesserte Polstück ermöglichen JSM- 6300F, größere Tiefen des Feldes und eine höhere Auflösung mit weniger Verzerrungen zu erreichen. Es ist in der Lage, eine Vielzahl von Proben abzubilden, darunter lebende Zellen, nicht lebende Materialien, weiche und harte Materialien sowie Nanopartikel. Die Probenmanipulation und die automatische Ausrichtung ermöglichen eine einfache und genaue Bildgebung auch bei sehr geringen Vergrößerungen. JEOL JSM 6300F bietet Flexibilität und höchste Leistung in der Bildgebung, Analyse und Automatisierung. Der hohe Durchsatz und die Fähigkeit, hohe Auflösungen zu erreichen, machen es zu einer praktikablen Option für Forscher, die kleine Strukturen abbilden und ihre Materialzusammensetzung analysieren möchten. Das integrierte elektronenoptische System ermöglicht es Benutzern, den Strahlstrom, den Winkel und den Arbeitsabstand einzustellen, um die Auflösung ihrer gewünschten Bilder zu maximieren und ihnen zu helfen, feine Details und Mikrostrukturen zu beobachten. Die automatisierten Funktionen, Analysefähigkeiten und die Auswahl an Probenmanipulationsmöglichkeiten machen dieses SEM zu einer attraktiven Wahl für verschiedene Forschungsanwendungen.