Gebraucht JEOL JSM 6300F #53576 zu verkaufen

JEOL JSM 6300F ist ein Rasterelektronenmikroskop (Rasterelektronenmikroskop), das bei der Erforschung kleinteiliger Objekte und Proben mit ultimativer Auflösung unterstützt. Dieses fortschrittliche Elektronenmikroskop bietet hochauflösende Bildgebung, überlegene Probe zur Wiederholbarkeit der Probe und eine Reihe von Flexibilität, um die Anforderungen einer Vielzahl von Anwendungen zu erfüllen. JSM 6300F verfügt über eine hochauflösende Feldemissionskanone (FEG) zur Erzeugung eines primären Elektronenstrahls. Sein kalter Zustand verbessert die Stabilität der Bilder und seine hohe Beschleunigungsspannung ermöglicht die Abbildung dickerer Proben. Der hohe Elektronenstrom ermöglicht eine ausgezeichnete Bildhelligkeit und minimale Aufladung von Proben. Ein Sekundärelektronendetektor, ein rückgestreuter Elektronendetektor und ein schneller FE-Sekundärdetektor bilden die drei Detektoren von JEOL JSM 6300F. In Kombination mit seiner hochauflösenden Hardware ermöglicht dies eine höhere Vergrößerungsabbildung komplexer Strukturen. Das System ist mit bildgebenden und analytischen Funktionen ausgestattet. Mehrere Abbildungstechniken, wie SE-Bilder, Sekundärelektronenbild, BSE-Bilder und SE/BSE-Bild können unabhängig oder in Kombination verwendet werden. Für die qualitative Auswertung ist die computerunterstützte Mikroskopie (CAM) -Bildgebungssoftware des JSM 6300F besonders nützlich zur Quantifizierung interner Merkmale und arbeitet mit den vielfältigen Einstellwerkzeugen der Software zusammen. JEOL JSM 6300F bietet auch eine Reihe von analytischen Fähigkeiten. Es verfügt über eine umfassende Auswahl an automatisierten Analyse- und Scantechniken, wie automatisierte Spektren-Mapping, Linienprofilanalyse, Flächenprofilanalyse, Elementaranalyse und vieles mehr. Die leistungsstarke Onboard-Röntgenfunktion bietet eine hochauflösende Ansicht von sogar Submikronbereichen. Diese Eigenschaften, kombiniert mit seiner Benutzerfreundlichkeit, machen JSM 6300F zu einem idealen Werkzeug für Materialwissenschaften, Oberflächentechnik, Gerätephysik, Biologie und andere Forschungs- und Entwicklungsanwendungen. Seine hohe Automatisierung, Feinkalibrierung und zuverlässige Wiederholbarkeit machen es zu einem der leistungsfähigsten SEMs, die derzeit verfügbar sind.