Gebraucht JEOL JSM 6300F #9224609 zu verkaufen

JEOL JSM 6300F ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) mit einer breiten Palette von Eigenschaften und Fähigkeiten. Es kann verwendet werden, um Materialien verschiedener Größen und Formen durch eine Vielzahl von Modi und interaktiven Funktionen zu analysieren. Das Mikroskop bietet eine höhere Auflösung und UHV-Leistung. JSM 6300F ist mit einer Feldemissionskanone (FEG) ausgestattet, die eine thermionische Emissionsspannung vom Typ Kaltfeld-Emissionskanone von 1,2 kV und eine thermionische Emissionsspannung vom Typ Heißfeld-Emissionskanone von 1,3 kV aufweist. Das Mikroskop verfügt außerdem über eine Doppelkipp- und Scanstufe, die eine schnelle und effiziente Bilderfassung ermöglicht. Die Vakuumkammer ist mit einem integrierten Auto-Nivelliersystem ausgestattet und die Proben werden auf einen einziehbaren Probenhalter gelegt. JEOL JSM 6300F bietet eine Reihe von Detektionsmodi, einschließlich konventioneller SEM, Hochvakuum (HV) SE, Niederspannungs-SE und rückgestreute Elektronen (BSE) Bildgebung. Es bietet auch eine vollständige Palette von Visualisierungs- und Analysefunktionen wie EDS, Röntgenkarte, Ionenfräsen, Wassertauchbildgebung und integrierte Bildverarbeitungsfunktionen wie Mittelung, Geräuschentwicklung und optische Korrektur. Das Mikroskop ist sowohl mit Windows- als auch Mac-Betriebssystemen kompatibel und wird mit einer gebündelten Software geliefert, die dem Benutzer die volle Kontrolle über seine Daten ermöglicht. JSM 6300F ist auch mit einer einziehbaren Live-SEM-Arbeitskammer ausgestattet, die es dem Benutzer ermöglicht, sowohl trockene als auch in-situ-Experimente durchzuführen. Insgesamt bietet JEOL JSM 6300F Anwendern eine verbesserte Auflösung und Präzision in ihren Bildgebungs- und Analysefunktionen. Es verfügt über eine intuitive Bedienung, die es dem Anwender ermöglicht, ihre SEM-Experimente schnell und effizient durchzuführen. Durch umfassende Datenmanipulationswerkzeuge, hochauflösende Bildgebung und vielseitige Betriebssystemkompatibilität ist JSM 6300F ein ideales Rasterelektronenmikroskop für eine breite Palette von Forschungs- und Bildungsanwendungen.