Gebraucht JEOL JSM 6300V #9098216 zu verkaufen

JEOL JSM 6300V ist eine hohe Leistung sekundäre Elektronabtastung des Elektronmikroskops (SEM). Die in dieses Instrument integrierte fortschrittliche Technologie macht es zu einem der zuverlässigsten und leistungsfähigsten SEMs. Seine qualitativ hochwertigen bildgebenden Funktionen und sein breites Spektrum an analytischen Funktionen machen es zu einer idealen Wahl für eine Vielzahl von Anwendungsanforderungen. JSM 6300V beinhaltet die neueste Elektronenoptik, um eine hervorragende Abbildung von Mikrostrukturen zu ermöglichen. Es verwendet eine hochauflösende Pistole und Objektivlinsensystem, um Auflösung zu maximieren und Aberrationen zu minimieren. Seine hohe Auflösung bietet eine überlegene Abbildung von feinen Details, einschließlich Dünnschicht und Nanostruktur. JEOL JSM 6300V bietet auch verbesserte Tiefe des Fokus und Tiefenauflösungen so niedrig wie 0,5 nm, so dass sehr genaue Details. JSM 6300V ist auch mit einer Reihe von Zubehör ausgestattet, um seine analytischen Fähigkeiten zu verbessern. Dazu gehören ein breites Spektrum von Detektoren wie ein energiedispersiver Röntgen- (EDX) Detektor, ein Kathodenlumineszenz- (CL) Detektor, ein Elektronen-Backscatter-Detektor (EBSD) Detektor und ein Hochenergiebeugungs (HED) System. Damit kann das SEM als leistungsfähiges Analyseinstrument eingesetzt werden, das Studien wie die Kompositionsbildgebung und die Korngrenzanalyse ermöglicht. Neben seinen bildgebenden und analytischen Fähigkeiten bietet JEOL JSM 6300V eine hervorragende Flexibilität und Benutzerfreundlichkeit. Das umfangreiche Softwarepaket bietet eine leistungsstarke Automatisierung vieler Aufgaben, wie Mustererkennung und -analyse. Es bietet auch eine fortschrittliche Automatisierung der Probenbelastung, um die Bedienung des Mikroskops zu vereinfachen. Insgesamt ist JSM 6300V eine ideale Wahl für eine Reihe von Materialanalyseanwendungen. Seine Kombination aus leistungsstarker Bildgebung und ausgefeilten Analysefähigkeiten machen es zu einem Must-Have für Rasterelektronenmikroskopieanwendungen. Mit seiner ausgezeichneten Flexibilität, Präzision und Zuverlässigkeit ist JEOL JSM 6300V ideal für eine Vielzahl von Anwendungen in einer Vielzahl von Materialforschung und -analyse.