Gebraucht JEOL JSM 6301F #293610717 zu verkaufen

JEOL JSM 6301F ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das einen fokussierten Elektronenstrahl verwendet, um hochauflösende Hochgeschwindigkeitsbilder und Spektren einer Probe zu erzeugen. JEOL JSM 6301 F bietet eine breite Palette von bildgebenden und analytischen Fähigkeiten mit seinem 50mm2 Sichtfeld und bis zu 300kV Elektronenbeschleunigung, so dass die Erzeugung von detaillierten Bildern auf der Nanoskala. Das Hauptelement des SEM ist eine Elektronenkanone und die Elektronen werden durch eine Feldemissionskanone beschleunigt. Die Elektronen laufen durch eine Säule zur Probenkammer, wo die Elektronen mit der Probe interagieren und Bilder erzeugen. Die Bilder können dann mit verschiedenen digitalen Bildgebungssoftware weiter analysiert werden. Diese Software ermöglicht die Quantifizierung und Analyse verschiedener Merkmale in der Probe, wie Oberflächentopographie, Zusammensetzung und Struktur. Ein weiterer starker Aspekt der JSM- 6301F ist die Fähigkeit, Elementaranalysen mit Sekundärelektronen- und Rückstreuelektronenbildgebung durchzuführen. Diese Techniken verwenden unterschiedliche Energieniveaus von Elektronen, um die Zusammensetzung der Probe zu sondieren und bieten chemische Kartierung, quantitative Oxford-Stil-Analyse und Detektion von Lichtelementen bei niedriger Beschleunigungsspannung. JSM 6301 F ist sehr vielseitig einsetzbar und umfasst verschiedene Arten von Detektoren, um verschiedene Messungen und Analysen durchzuführen. Die Elektronen-Backscatter-Beugung (EBSD) ist ein Modus, der die Charakterisierung kristallographischer und mikrostruktureller Informationen im Nanobereich ermöglicht. Das EBSD-System wurde entwickelt, um die grundlegenden Makrostrukturen einer Probe wie Korngrenzen, Zwillingsgrenzen und Phasengrenzen genau zu lokalisieren. JEOL JSM 6301F verfügt außerdem über einen Kathodolumineszenzdetektor, eine Hochvakuumkammer und einen monochromierten Rückbilddetektor, um seine analytischen Fähigkeiten zu verbessern. Die Kombination dieser Merkmale ermöglicht die Untersuchung verschiedener Eigenschaften, wie Widerstand, elektrische und magnetische Felder, Temperatur und mehr. Neben seinen analytischen Fähigkeiten bietet JEOL JSM 6301 F auch einen erweiterten Workflow. Die Software integriert eine intuitive grafische Benutzeroberfläche, mit der Benutzer schnell und einfach relevante Parameter, Beispielinformationen und Verarbeitungseinstellungen eingeben können. Die Kombination aus leistungsfähiger Bildgebung, Elementaranalyse und intuitiver Software macht JSM 6301F zu einem wertvollen Werkzeug für Forschung und Industrie.