Gebraucht JEOL JSM 6301F #293628172 zu verkaufen

JEOL JSM 6301F Scanning Electron Microscope (SEM) ist eine hochpräzise bildgebende Ausrüstung, die maximale Leistung und Komfort bietet. Dieses SEM wurde um eine monolithische einteilige Säule konzipiert, die Vibrationen minimiert und die Stabilität erhöht und so dem Anwender eine hohe Produktivität und Bildqualität bietet. JEOL JSM 6301 F ist in der Lage, einen Bereich von Vergrößerungen von 50x bis 400.000x und eine Bildauflösung bis 0.5nm. Es kann sowohl im Niedervakuum- als auch im Umgebungsmodus betrieben werden und ermöglicht eine Reihe von Probenhalteroptionen. JSM verwendet 6301F eine thermisch stabilisierte Schottky-Feldemissionselektronenquelle, die ihre Leistung zwischen 2-30kV erweitert. Diese Quelle arbeitet mit einem Strom von 1.2A und arbeitet mit beschleunigenden Spannungen von 3.2kV und führt zu einem hervorragenden Signal-Rausch-Verhältnis. Ein automatisiertes Linsenausrichtungssystem sorgt dafür, dass das Objektiv immer für optimale Leistung eingerichtet ist und reduziert den Eingriff des Anwenders für eine optimale Bildgebung. Die Elektronenoptik des JSM 6301 F wurde speziell auf maximale Leistung abgestimmt. Der beleuchtete Bereich der Probe ist über eine 3,2nm-Blende und eine Kondensator-Beleuchter-Objektivlinse einstellbar. Ebenfalls enthalten ist eine kippbare Dual-Gradient-Field (DGF) -Linseneinheit, die eine präzise Steuerung des Elektronenstroms ermöglicht. Dieses Objektiv ermöglicht eine präzise Abbildung bei hohen Vergrößerungen unter Beibehaltung eines weiten Sichtfeldes. Die Probenstufe von JEOL JSM 6301F ist höhenverstellbar und bietet einen gesamten Scanbereich von bis zu 200mm und unterstützt dabei eine Vielzahl von Probenhaltern. Ein Niedrigvakuum-Modus ermöglicht die Beobachtung von Proben ohne vorherige Vorbereitung und ermöglicht auch die Verwendung des Mikroskops für die Elementaranalyse. Optional ist auch ein Kryostadium für die Untersuchung von Proben bei niedrigen Temperaturen verfügbar. Für maximale Bildqualität und Datenanalyse ist JEOL JSM 6301 F mit einer integrierten digitalen Bildverarbeitungsmaschine ausgestattet. Dies ermöglicht es dem Benutzer, qualitativ hochwertige Bilder von Proben in Echtzeit zu erfassen und danach sofort zu analysieren. Das digitale Bildgebungswerkzeug ermöglicht es dem Anwender auch, Bilder zur weiteren Analyse auf einen PC zu übertragen. Eine intuitive Bedienoberfläche ermöglicht es dem Anwender, das Mikroskop schnell einzurichten und Parameter wie Beschleunigungsspannung, Beschleunigungsneigung, Scanvergrößerung und Sichtfeld einzustellen. Die Software ist benutzerfreundlich gestaltet und enthält detaillierte Anweisungen zum Einrichten des Mikroskops und zum Erfassen von Bildern. Insgesamt ist JSM 6301F Scanning Electron Microscope eine zuverlässige und präzise bildgebende Lösung, die Anwendern ein unvergleichliches Maß an Leistung und Benutzerfreundlichkeit bietet.