Gebraucht JEOL JSM 6320F #136303 zu verkaufen

JEOL JSM 6320F Scanning Electron Microscope (SEM) ist ein hochauflösendes bildgebendes Werkzeug, das verwendet wird, um kontrastreiche Bilder von Proben im Nano- und Mikromaßstab zu erhalten. Es kann sowohl topographischen als auch elementaren Kontrast abbilden und kann sowohl für die Inspektion als auch für die Analyse verwendet werden. Herzstück von JSM 6320F ist eine Feldemissionskanone, die einen Elektronenstrahl mit einem hohen Primärstrahlstrom über einen breiten Strahlbeschleunigungsspannungsbereich von 0,5 bis 30kV bereitstellen kann. Dieser Elektronenstrahl wird über die Probe gescannt, um die erforderlichen Bilder zu liefern. Eine genaue Ausrichtung des Elektronenstrahls auf der Probe wird durch die Aufnahme eines eingebauten Mikro-Aligner-Merkmals auf dem Mikroskop sichergestellt, wodurch die bestmöglichen Bilder erhalten werden. Die Elektronenoptik von JEOL JSM 6320F umfassen Schottky- und LaB6-Elektronenquellen, eine Quadrupol-Linsensäule, die maximale Leistungsstabilität und Aberration bietet, eine beschleunigende Seitenstangenlinse, eine Kondensatorlinse und ein Parallelstrahlsystem, um die Streuung zu reduzieren und die Auflösung zu verbessern. Darüber hinaus ermöglicht ein veränderbarer Kondensator eine optimale Bildqualität bei jeder Vergrößerung. Die hohe Auflösung von JSM 6320F SEM wird durch seinen Everhart-Thornley Sekundärelektronendetektor und ein großes Sichtfeld ermöglicht. Der Everhart-Thornley Detektor wurde entwickelt, um jedes von der Probe zurückgestreute Elektronen zu erfassen und dadurch genauere Bilder mit mehr Kontrast zu liefern. Das große Sichtfeld ermöglicht es dem Anwender, einen weiten Bereich abzubilden, so dass schnelle Inspektionen und Analysen von Proben durchgeführt werden können. Neben der Bildgebung ist JEOL JSM 6320F auch in der Lage, verschiedene analytische Fähigkeiten bereitzustellen. Dazu gehören Elektronenrückstreuung, Sekundärelektronenbildgebung, In-situ-Rasterwärmeanalyse und chemische Analyse. Die chemische Analyse in situ kann mittels energiedispersiver Röntgenspektroskopie (EDS) und wellenlängendispersiver Röntgenspektroskopie (WDS) -Detektoren durchgeführt werden. Abschließend ist JSM 6320F ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop, das hochauflösende Bildgebung mit leistungsstarken analytischen Fähigkeiten kombiniert. Mit seiner Feldemissionskanone, dem Everhart-Thornley-Detektor und der Quadrupol-Linsensäule ist es in der Lage, klare und kontrastreiche Bilder an Nano- und Mikroskalen zu liefern, während seine EDS- und WDS-Detektoren eine chemische Analyse von Proben ermöglichen. Als solches ist es ein ideales Werkzeug für die Mikroskopie und Analyse von Proben für viele Branchen und Forschungsanwendungen.