Gebraucht JEOL JSM 6320F #9134048 zu verkaufen

JEOL JSM 6320F ist ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop zur Bildgebung und Analyse einer Vielzahl von Materialien. Es verwendet einen Rasterelektronenstrahl, um hochauflösende Bilder von Einzelatomen, Partikeln, Partikeln verschiedener Größen und anderen Materialien zu erfassen. JSM 6320F verfügt über ein integriertes energiedispersives Röntgenspektrometer und digitale Anzeigefunktionen, mit denen Benutzer ihre Proben in Echtzeit analysieren können. JEOL JSM 6320F verwendet eine Wolfram-Filament-Elektronenkanone, um den Rasterelektronenstrahl zu erzeugen. Dieser Elektronenstrahl wird dann über die Probe gescannt, um ein zweidimensionales elektronisches Bild der Probe zu erzeugen. Der Elektronenstrahl wird mit einer Kondensatorlinse fokussiert und mit einer einstellbaren Blende defokussiert. Dies ermöglicht es dem Mikroskop, klare und hochauflösende Bilder zu erzeugen und ermöglicht es Benutzern, komplizierte Details von Proben zu beobachten. Darüber hinaus ist JSM 6320F mit einem integrierten Elektronenenergieverlustspektrometer (EELS) ausgestattet, um die Energiezustände der Elektronen der Probe zu detektieren und zu analysieren. Dies ermöglicht zusätzliche analytische Möglichkeiten und den Nachweis spezifischer Materialzusammensetzung. Weiterhin kann der AAL zur Detektion der elementaren Zusammensetzung und Orientierung der Probe sowie zur Dickenmessung verwendet werden. JEOL JSM 6320F wird auch mit einem integrierten Mehrkanal-Plattendetektor geliefert. Dieser Detektor dient zur Erfassung von Informationen aus dem Elektronenstrahl, mit dem dann ein Bild der Probe erzeugt wird. Der Detektor kann verwendet werden, um kontrastreiche Bilder einer Vielzahl von Proben zu erfassen, und ist besonders hilfreich bei der Untersuchung von Mikrostrukturen auf atomarer Ebene. Der Detektor hilft auch, Hintergrundrauschen zu reduzieren und die Bildauflösung zu erhöhen. Schließlich ist JSM 6320F mit einer digitalen Anzeigeeinrichtung ausgestattet, mit der Benutzer ihre Analysen in Echtzeit beobachten können. Dieses Anzeigesystem bietet einen höheren Kontrast und eine höhere Auflösung als ein herkömmlicher Leuchtstoffschirm. Darüber hinaus kann die Anzeigeeinheit zur Überprüfung von Bildern nach Abschluss der Analysen verwendet werden. Abschließend ist JEOL JSM 6320F ein leistungsstarkes Rasterelektronenmikroskop, das hochauflösende Bilder einer Vielzahl von Proben liefern kann. Es ist mit einem Rasterelektronenstrahl, einem energiedispersiven Röntgenspektrometer, einem Mehrkanal-Plattendetektor und einer digitalen Anzeigemaschine für Echtzeitbeobachtungen ausgestattet. Dieses leistungsstarke Mikroskop ermöglicht es Anwendern, ihre Proben genau zu analysieren und zu beobachten.