Gebraucht JEOL JSM 6320F #9144812 zu verkaufen

JEOL JSM 6320F ist ein leistungsstarkes und vielseitiges Rasterelektronenmikroskop (SEM), das zu einer Vielzahl von Messungen und bildgebenden Verfahren fähig ist. JSM verwendet 6320F eine Elektronensäule mit einer maximalen Beschleunigungsspannung von 30 kV und ist damit ideal für eine Reihe von Studien von biologischen Proben bis hin zu Halbleitern. Die Säule ist mit einem Inlinsen-Sekundärelektronendetektor ausgestattet, der eine Hochleistungsabbildung der Proben ermöglicht. Der Sekundärelektronendetektor ist in der Lage, Oberflächenmerkmale wie Gruben, Partikel und elektronenstrahlinduzierte Schäden zu unterscheiden und hervorzuheben. Die in-Säule Everhigh Kammer, sorgt für die höchstmögliche Vakuumspiegel für eine schnelle Evakuierung der Kammer und eine verbesserte Auflösung der nachfolgenden Bilder. Ein aufblasbares Türbalgsystem wird auch verwendet, um optimale Druckniveaus innerhalb der Kammer zu gewährleisten. Das Hi-Bright-System des SEM bietet eine hohe Helligkeitsbeleuchtung für bis zu drei Objekte gleichzeitig und verwendet einen auf Szintillatoren basierenden Antireflexionsschirm, um das bei der Bildaufnahme vorhandene Hintergrundrauschen zu reduzieren. Die simultane Licht-/Dunkelfeld-Bildgebung ist auch für die optimale Visualisierung von feinen Oberflächenmerkmalen verfügbar. Das Instrument ist auch in der Lage, verschiedene Niederspannungs-Abbildungsmodi (LVI) herzustellen. LVI-Bildgebung ist perfekt für die Abbildung von organischen Proben bei niedriger Spannung und mit minimalen Strahlschäden. Diese Technik ermöglicht einen verbesserten Kontrast und eine bessere Auflösung und ermöglicht es, Informationen zu erhalten, die bei regelmäßiger Sekundärelektronenbildgebung nicht sichtbar wären. Das Mikroskop ist in der Lage, eine Vielzahl von speziellen Messtechniken, wie Energiedispersive Spektroskopie (EDS), ein Verfahren zur in-situ Zusammensetzung Analyse von Materialien in der Probe. Diese Technik ist wesentlich für die Materialkennzeichnung und Identifizierung. JEOL JSM 6320F unterstützt auch eine automatische Stufe, die eine präzise Positionierung der Probe für optimale Abbildungsbedingungen ermöglicht. Die Bühneneinstellungen lassen sich leicht manipulieren, um SEM-Ansichten zu artikulieren, einschließlich 360-Grad-Drehungen, Einstellungen für geneigte Betrachtung und Querschnittsbildgebung. Abschließend ist JSM 6320F ein leistungsfähiges und vielseitiges Rasterelektronenmikroskop, das zu einer Vielzahl von Bildgebungs- und Messtechniken fähig ist. Es ist überlegene Vakuum- und Beleuchtungssysteme bieten außergewöhnliche Leistung für eine Reihe von Anwendungen.