Gebraucht JEOL JSM 6320F #9210319 zu verkaufen

JEOL JSM 6320F ist ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop (SEM), das fortschrittliche Elektronenoptiken und Detektoren für die Abbildung von Proben auf Atom- und Nanoskala verwendet. Es ist in der Lage, atemberaubende hochauflösende Bilder von selbst feinsten Details zu produzieren. Das 6320F bietet überlegene Bildgebung mit einem Sichtfeld von bis zu 54 µm und einer HD-Auflösung von 4,1 nm. Der Elektronenstrahl wird durch einen 20-poligen unipolaren Magneten beschleunigt, der hilft, die Strom- und Raumauflösung zu erhöhen, um detaillierte Bilder mit hohem Kontrast und Klarheit zu erhalten. Das 6320F ist auch mit einer Vielzahl von Probenhaltern und -stufen ausgestattet, die für die Bearbeitung einer Vielzahl von Mustertypen und -größen entwickelt wurden. Es ist in der Lage, Proben von bis zu 200 mm Durchmesser und mit einem Maximum von 120mm Höhe aufzunehmen. Der Stufeneinstellbereich beträgt bis zu 40mm in X- und Y-Richtung, was eine einfache ergonomische Probenbesichtigung ermöglicht. Das SEM ist auch mit einer dualen Detektorausrüstung ausgestattet, die den Benutzern das Beste aus ihren Proben liefert. Es gibt einen Sekundärelektronen-Detektor (SE), der die Elektronen detektiert, die aus der Probe für die Hellfeldabbildung gestreut werden. Dies ermöglicht die Identifizierung verschiedener Materialien auf der Probe sowie die Möglichkeit, Kontraste aus einer Vielzahl von Materialien zu erkennen. Zusätzlich soll der rückgestreute Elektronendetektor (BSE) große, kontrastreiche Bilder zur Analyse der Oberfläche der Probe erfassen. Aufgrund seiner fortschrittlichen Elektronenoptik ist das 6320F in der Lage, Auflösungen von bis zu 10.000x Vergrößerung abzubilden. Es ist auch mit Oberflächensteuerung und äußeren Türsteuerungssystemen für Probenatmosphäre und Umgebungsbedingungen ausgestattet. Das äußere Türsteuerungssystem wurde entwickelt, um Luftveränderungen zu minimieren, die Bilder berauben, während die Probensteuereinheit dafür verantwortlich ist, die Elektronenemission der Probe für überlegene Bildklarheit gleichmäßig zu halten. JSM 6320F ist ein wirklich revolutionäres SEM, das bemerkenswerte bildgebende Möglichkeiten bietet. Mit seiner Dual-Elektronendetektormaschine, dem fortschrittlichen optischen Design und der ergonomischen Probenstufe ist es das perfekte Instrument für die Abbildung auf Atom- und Nanoskala. Seine hochauflösenden Bilder und die genaue Darstellung von Materialien machen es zu einem unverzichtbaren Werkzeug für Forschung, Hersteller und Industrie.