Gebraucht JEOL JSM 6320F #9210344 zu verkaufen

JEOL JSM 6320F ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) zur Verwendung in der Materialanalyse. Es ist ein Industriestandard-Mikrobild- und Mikroanalysesystem zur Analyse von Submikron bis makroskopischen Merkmalen. Es ist in der Lage, feine Eigenschaften von Proben wie Poren und Korngrenzen mit einer Auflösung von bis zu 0,06 nm zu visualisieren und bietet statistische Bildgebung, analytische Informationen und 3D-Modellierung. JSM 6320F ist mit Elektronenoptik und fortschrittlichen Detektoren ausgestattet, die es dem Anwender ermöglichen, maximale analytische Leistung zu erzielen. Die bildgebenden Fähigkeiten des 6320F können zur Analyse von Korngröße und -orientierung, Oberflächenrauhigkeit, Mikroskopie und vielen weiteren Anwendungen verwendet werden. Mit einem ringförmigen Sichtfeld SEM-Bildgebung bietet JEOL JSM 6320F eine Kombination aus großer Tiefenschärfe, hochauflösenden Bildern und einem verbesserten Sichtfeld. Zu den analytischen Fähigkeiten des 6320F gehört die energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDS), die es dem Anwender ermöglicht, die elementare Zusammensetzung der Proben zu analysieren. Darüber hinaus bietet die Hochvakuum- und Niederspannungs-Elektronenumgebung von JSM 6320F hochwertige Bilder von Proben, ohne dass eine schwere Probenvorbereitung erforderlich ist. JEOL JSM 6320F eignet sich für eine Vielzahl von Branchen wie Metallurgie, Automobil, Elektronik und Lebensmittel. Das 6320F bietet Benutzern eine einfache Bedienung, die unter Windows XP und Windows Vista unterstützt wird. Das 6320F hat die Kapazität von bis zu 2 Proben und 5 Detektoren, so dass der Benutzer eine breite Palette von Probentypen analysieren. In der Zusammenfassung ist JSM 6320F ein scannendes für die Materialanalyse verwendetes Industriestandardelektronmikroskop. Es ist in der Lage, feine Eigenschaften von Proben mit einer Auflösung von bis zu 0,06 nm zu visualisieren und bietet statistische Bildgebung, analytische Informationen und 3D-Modellierung. Das 6320F bietet Anwendern eine einfache Bedienung und die Fähigkeit, eine breite Palette von Probentypen zu analysieren. Dieses Mikroskop eignet sich für eine Vielzahl von Branchen und ist damit ein leistungsstarkes Werkzeug für die Materialanalyse.