Gebraucht JEOL JSM 6320F #9232338 zu verkaufen

JEOL JSM 6320F
ID: 9232338
Scanning Electron Microscope (SEM).
JEOL JSM 6320F ist ein Feldemissionsrasterelektronenmikroskop (SEM), das für die hochauflösende Abbildung vieler Probentypen verfügbar ist. Es ist mit einer hocheffizienten Feldemissionskanone (FEG) und einem digitalen In-Column-Detektor für die Bildgebung ausgestattet, und eine umfassende Palette von Kontrollen ermöglicht eine präzise Abtastung und Bildgebung. JSM 6320F ist in der Lage, sehr detaillierte Bilder mit einer Auflösung von bis zu 2,5 nm zu erzeugen, während ein variables Drucksystem die Beobachtung nichtleitender Proben mit minimaler oder keiner Probenvorbereitung ermöglicht. JEOL JSM 6320F hat eine Beschleunigungsspannung von 1 kV bis 30 kV und kann auch bei hoher Vergrößerung einen stabilen und gleichmäßigen Strahl mit rauscharmer Bildgebung erzeugen. Das In-Column Energy Dispersive Spectrometer (EDS) des Mikroskops ermöglicht die Detektion und Analyse von Lichtelementen, während ein automatisiertes Navigationssystem den Benutzer durch die Probenausrichtung führt. Automatisierte Funktionen wie Kippstabilisierung und Bildnähte reduzieren die Zeit, die benötigt wird, um eine Probe vollständig zu charakterisieren. JSM 6320F hat ein einzigartiges Design, das eine flexible, gut beleuchtete optische Säule und eine ergonomisch gestaltete, luftausbalancierte Bühne umfasst, die eine präzise Navigation garantiert und Probendrift verhindert. Leicht anpassbare Bildgebungskonfigurationen ermöglichen die Erzeugung detaillierter Bilder in einer Reihe von Materialien und bei unterschiedlichen Vergrößerungen. Darüber hinaus eignet sich das Mikroskop gut für Anwendungen wie Mikroanalyse, Gussplattenanalyse, Mikroprobing und Partikelgrößenanalyse. JEOL JSM 6320F ist ein umfassendes Werkzeug, das eine hochauflösende Abbildung einer Vielzahl von Proben ermöglicht. Mit seinen fortschrittlichen Investitionen in Feldemissionstechnologie und umfassenden Bildgebungsfunktionen bietet das Mikroskop Anwendern eine beispiellose Auflösung und Kontrolle, um Proben effizient zu analysieren.
Es liegen noch keine Bewertungen vor