Gebraucht JEOL JSM 6320FZ #9386490 zu verkaufen

JEOL JSM 6320FZ ist ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop (SEM) mit einer Fülle von leistungsstarken und vielseitigen Eigenschaften. Es zeichnet sich durch seine ausgezeichnete Niedervakuumleistung mit Feldemissionsquellenfähigkeit und verbesserter Analysefähigkeit aus. Das erste bemerkenswerte Merkmal von JSM 6320FZ ist seine Feldemissionsquellen-Fähigkeit. Dadurch kann das Mikroskop unter vakuumarmen Bedingungen arbeiten und das Potenzial für Probenschäden verringern. Die Feldemissionsquelle bietet auch ein hohes Maß an Stabilität und genaue Kontrolle, so dass maximale Auflösung und Bildleistung. JEOL JSM 6320FZ ist auch mit einem schnellen, hochauflösenden digitalen Bildgebungsgerät installiert, das es Forschern ermöglicht, hochauflösende Bilder von Proben mit minimalen Verzerrungen zu erfassen. Dieses System enthält sowohl Sekundärelektronen- als auch Rückstreuelektronendetektoren für verbesserten Bildkontrast und Detail. Es verfügt über eine innovative MINT-Bildgebungseinheit, die eine überlegene Auflösung in Kombination mit verbessertem bildgebendem Kontrast und Detail bietet. Darüber hinaus ist JSM 6320FZ mit fortschrittlichen analytischen Fähigkeiten ausgestattet, einschließlich der energiedispersiven Röntgenspektroskopie (EDS) und der Elektronen-Backscatter-Beugung (EBSD). Diese Techniken ermöglichen es Forschern, die elementare Zusammensetzung und kristallographische Struktur von Proben zu identifizieren und zu analysieren. JEOL JSM 6320FZ enthält eine Ultrahochvakuumstufe, die eine überlegene Beschleunigungsspannungsstabilität für eine verbesserte Elektronenstrahlleistung bietet. Darüber hinaus ist JSM 6320FZ mit einer fortschrittlichen Probenbewegungsmaschine konzipiert, die in der Lage ist, Proben für eine optimale Bildgebung und Analyse schnell und genau zu positionieren. Es umfasst eine Vielzahl von motorisierten Bühnenoptionen sowie eine automatisierte Feinabstimmung der Neigung, Ausrichtung und Vergrößerung. Insgesamt ist JEOL JSM 6320FZ ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop mit einer Reihe von Funktionen und analytischen Fähigkeiten. Es bietet ausgezeichnete Feldemissionsquellenfähigkeit, die hochauflösende Bilder und minimierte Probenschäden gewährleistet. Mit einer ultrahohen Vakuumstufe, erweiterten Bildgebungs- und Analyseoptionen und automatisierten Feinabstimmungsfunktionen ist JSM 6320FZ ein leistungsstarkes Werkzeug für Mikroskopieforscher.