Gebraucht JEOL JSM 6330F #293664772 zu verkaufen

JEOL JSM 6330F ist ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop (SEM), das High-End-Funktionen wie Nanometer-Auflösung, Energieauflösung zwischen 0,1-2,0 keV sowie niederschwellige Erkennungsfähigkeit mit einer Auflösung von 0,14 nm bietet. Dies ermöglicht die Charakterisierung von Strukturen im Nanometermaßstab und ermöglicht eine zuverlässige Abbildung extrem dünner Proben. JEOL JSM-6330F bietet eine hochauflösende Abbildung von Proben bis zu einer Dicke von 200 nm bei einer Mindesteigenschaftsgröße von 0,5 nm. Diese hohe Empfindlichkeit wird ferner durch den Einbau von Everhart-Thornley und variablen Druckmodi unterstützt, die sich ideal für die Abbildung schwach absorbierender Proben und vakuumsensitiver Materialien eignen. Das SEM ist mit einer Reihe von Detektoren ausgestattet, einschließlich eines rückgestreuten Elektronen- und Sekundärelektronendetektors, der die Beobachtung topographischer und zusammensetzender Informationen in einem sehr kleinen Bereich ermöglicht. Dies ermöglicht beispiellose Details von Objekten, die zu klein sind, um mit einem Lichtmikroskop gesehen zu werden. JSM 6330 F ermöglicht auch die Erfassung hochempfindlicher Röntgenelementkarten, die die Quantifizierung verschiedener in der Probe enthaltener Elemente ermöglichen. Zusätzlich schließt das Mikroanalysesystem eine Wellenlänge Dispersive Spektrometrieneinheit ein, die genau die elementare Zusammensetzung von Proben unten zu 30 μm bestimmt. Für überlegene Leistung verfügt das System über eine ultrastabile mechanische Säule, die zur Minimierung von Stufendrift und Vibrationen entwickelt wurde, um einen präzisen Betrieb zu gewährleisten. Das integrierte digitale Bildgebungssystem ergänzt die allgemeine Zuverlässigkeit des SEM und unterstützt die Analyse von Materialien sowie die Bildaufnahme und -speicherung. Schließlich enthält JEOL JSM 6330 F benutzerfreundliche Software, die eine einfache Bedienung durch vorprogrammierte Einstellungen und Automatisierungsfunktionen ermöglicht. Dies ermöglicht effiziente Workflows, die eine schnelle Probenvorbereitung und -analyse innerhalb eines einzigen Prozesses ermöglichen. Zusammenfassend ist JSM 6330F ein außergewöhnliches Rasterelektronenmikroskop, das eine signifikant verbesserte Leistung und Zuverlässigkeit bei der Gewinnung von Bildern und Daten bietet. Dies macht es ideal für eine Vielzahl von Anwendungen, die von der wissenschaftlichen Grundlagenforschung bis zur Materialanalyse im industriellen Umfeld reichen.