Gebraucht JEOL JSM 6330F #9041540 zu verkaufen

JEOL JSM 6330F ist ein Tischplatten-Rasterelektronenmikroskop (SEM), das zur Untersuchung der Mikrostruktur- oder Oberflächenmerkmale einer Vielzahl von Materialien verwendet wird. Dieses Gerät verwendet Sekundärelektronen, die durch einen Elektronenstrahl erzeugt werden, der auf die Probenoberfläche fokussiert wird, um ein Bild zu erzeugen oder die Oberflächentopographie, Zusammensetzung oder andere physikalische Eigenschaften des Materials zu analysieren. JEOL JSM-6330F arbeitet entweder im Hochvakuum oder Niedervakuum-Modus und ist in der Lage, Vergrößerungen bis zu 32.000x. Durch den Niedervakuum-Modus der JSM 6330 F können nichtleitende Proben, wie Kohlenstoff, ohne Metallbeschichtung hergestellt werden. Dieser Modus unterstützt auch die vakuumarme Abbildung von hochleitfähigen Materialien wie Gold. Der Hochvakuummodus sorgt für einen kürzeren Arbeitsabstand, der größere Arbeitsbereiche und feinere Punktgrößen ermöglicht. JSM-6330F ist in der Lage, in echter Farbe oder falscher Farbe abzubilden. True Color SEM ermöglicht das Scannen von Proben in ihrer natürlichen Farbe, während False Color SEM alle Farbunterschiede eliminiert, sodass das Bild vollständig in Grautönen erzeugt wird. JEOL JSM 6330 F ist mit einem Everhart-Thornley Sekundärelektronendetektor ausgestattet, um Signal-Rausch-Verhältnisse sowie zusätzliche Komponenten wie eine Kryo-Stufe, Stufenheizung und Kühlstufen, variable Druckstufen und die Fähigkeit zur Automatisierung der Probenabtastung zu verbessern. Die angeschlossene Software ist unglaublich benutzerfreundlich und enthält eine Reihe von zusätzlichen Funktionen wie Partikelgrößenzuordnung, Bildbearbeitung, Bildverarbeitung und quantitative Analyse. JSM 6330F ist ein robustes, vielseitiges SEM, das sich perfekt zum Betrachten und Analysieren kleiner und empfindlicher Merkmale eignet, wie mikroskopische Frakturen oder winzige Oberflächenmatrix-Verbundwerkstoffe. Die Einbeziehung der E-T-Detektoren ermöglicht eine höhere Detektorabdeckung, eine höhere Detektionseffizienz und ein verbessertes Signal-Rausch-Verhältnis. Mit seinen anpassbaren Softwareoptionen und dem erweiterten Zubehörprogramm ist JEOL JSM 6330F ein leistungsfähiges, aber erschwingliches Tischplatten-Rasterelektronenmikroskop für die Erforschung einer Vielzahl von Materialien in akademischen und industriellen Umgebungen.