Gebraucht JEOL JSM 6330F #9071903 zu verkaufen

JEOL JSM 6330F Rasterelektronenmikroskop (SEM) ist ein vielseitiges Werkzeug zur detaillierten Analyse einer Vielzahl von Objekten. Das leistungsstarke, multifunktionale Bildgebungssystem bietet eine hervorragende Auflösung und einen hohen Kontrast für eine Vielzahl von Probentypen. Seine kompakte Größe und das leichte Design machen es bei Laboren aller Größen beliebt. JEOL JSM-6330F bietet eine Reihe von bildgebenden Techniken einschließlich rückgestreuter Elektronenbildgebung, sekundärer Elektronenbildgebung, BSE-Farbverbundbildgebung und STEM (Scanning Transmission Electron Microscopy). Es enthält auch einen variablen Fokus, einen dedizierten Sekundärelektronendetektor und ein effektives In-Column-Energiefilter. Mit einem Hochleistungswechselrichter kann das Mikroskop eine ganze Reihe von Vergrößerungen von 15x bis über 200.000x betreiben. Aufgrund seines 6-Achsen-motorisierten Probenhalters kann JSM 6330 F eine breite Palette von Probentypen handhaben und eine präzise automatisierte Probenvorbereitung und -scannung bereitstellen. Neben seinen bildgebenden Fähigkeiten ist JSM-6330F auch mit drei fortschrittlichen Analysesystemen ausgestattet, die anspruchsvolle Analysen wie EDS (Energy Dispersive Spectroscopy), WDS (Wavelength Dispersive Spectroscopy) und EDX (Energy Dispersive X-ray Spectroscopy) ermöglichen. Diese Systeme ermöglichen die elementare oder zusammensetzende Analyse jeder Probe. JEOL JSM 6330 F bietet ausgezeichnete bildgebende Qualität sowie eine Vielzahl fortschrittlicher analytischer Fähigkeiten. Seine robusten Scan- und Bildgebungsfunktionen helfen Benutzern, hochauflösende Bilder und hochgenaue Analyseergebnisse zu erhalten. Es ist ein ideales Werkzeug für Forscher und Wissenschaftler in einer Vielzahl von Bereichen, die ein zuverlässiges und vielseitiges SEM benötigen.