Gebraucht JEOL JSM 6330F #9131143 zu verkaufen

JEOL JSM 6330F ist ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop (SEM). Es ist für eine Reihe von Anwendungen von der Charakterisierung kleiner Partikel bis zur Nanometerskala Bildgebung konzipiert. Dieses SEM bietet mehrere vorteilhafte Merkmale, darunter eine integrierte Minisäulenkonstruktion, eine große Probenkammer und eine flache Probenstufe. Das 65kV Minisäulendesign ermöglicht eine präzise Strahlpositionierung und Bildqualität. Es ermöglicht eine präzise Strahlpositionierung über eine große Fläche und bietet eine hochauflösende Bildgebung. Die Auflösung dieses SEM beträgt bis zu 1,2 Nanometer auf einem rückgestreuten Elektronendetektor. Die Bildvergrößerung beträgt 0,3x bis 300x, mit einer Auflösung von 0,8 Nanometern. Die große Probenkammer kann eine Vielzahl von Proben in einer Vielzahl von Größen und Konfigurationen aufnehmen. Dies ermöglicht eine effiziente und konsistente Analyse. Die Stufe des SEM kann bis zu 100 Millimeter große Proben aufnehmen, was eine Vielzahl von Forschungsszenarien ermöglicht. JEOL JSM-6330F ermöglicht auch die automatisierte Hochgeschwindigkeitsbildgebung. Es ist in der Lage, bis zu 5 verschiedene Probefelder in einem einzigen Bildscan zu scannen. Dies ist besonders nützlich für die Forschung, die mehrere Scans erfordert, oder für Analysen großer Flächen. Dieses SEM ist mit mehreren Detektoren zum Sammeln verschiedener Datentypen ausgestattet. Dazu gehören ein Sekundärelektronendetektor, ein rückgestreuter Elektronendetektor, ein niederenergetischer Elektronendetektor und ein energiedispersiver Spektrometerdetektor. Jede Art von Detektor bietet verschiedene Arten von Daten, die verwendet werden können, um mehr Informationen über eine Probe zu gewinnen. JSM 6330 F ist ein optimales Werkzeug für die Arbeit auf dem Gebiet der Nanotechnologie. Seine hohe Auflösungsleistung sowie seine automatisierten bildgebenden Funktionen ermöglichen es Forschern, Proben auf Nanometerebene zu untersuchen. So erhalten Forscher wertvolle Einblicke in die Struktur und Zusammensetzung von Materialien auf nanoskaliger Ebene. Insgesamt ist JEOL JSM 6330 F ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop, das eine Reihe von Vorteilen bietet. Es ist in der Lage, hochauflösende Bildgebung, automatisierte Bildgebung, mehrere Detektoren und eine große Probenkammer. Damit ist es das ideale Werkzeug für Forschung und Anwendungen auf nanoskaliger Ebene.