Gebraucht JEOL JSM 6330F #9164163 zu verkaufen

JEOL JSM 6330F ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das hochauflösende Bilder verschiedener Oberflächen bis zu einer Auflösung von 50 Nanometern erzeugen kann. Sein Elektronenstrahl-Bildgebungssystem ist mit einem ultrahochauflösenden Sekundärelektronendetektor ausgestattet, der mit 10-Bit (1024 Intensitätsstufen) Kontrast abbilden kann und eine detaillierte Analyse der Proben-Feinmerkmale über die Probe ermöglicht. Dieses Instrument ist in der Lage, eine breite Palette von analytischen Techniken, von Orientierung bildgebende Mikroskopie (OIM), katho-optische Mikroskopie (COM), und Even Fourier transform imaging (EFTEM). JEOL JSM-6330F ist mit einem hochmodernen Vakuumsystem mit einer Pumpgeschwindigkeit von 20m3/h ausgestattet. Dieses Vakuumsystem bietet einen Druckbereich von 10-6 mbar bis 10-2 mbar und stellt sicher, dass die Bedingungen für den Betrieb des Sekundärelektronendetektors und der niederenergetischen Elektronen geeignet sind. JSM 6330 F kann ohne Erwärmung der Probenoberfläche (Kaltstufe oder Thermospray-Zubehör) oder mit einem optionalen Heizelement betrieben werden, das Temperaturen bis 650 ° C erreichen kann. JSM 6330F kann mit einer Reihe von analytischen Techniken programmiert werden. Die Energy Dispersive Röntgenspektroskopie (EDX) bietet eine Reihe von analytischen Funktionen, darunter elementares Mapping, Partikelbildgebung und Tiefenprofilierung. Die partikelinduzierte Röntgenemission (PIXE) ermöglicht eine zerstörungsfreie elementare Analyse der Probe mit hoher räumlicher Auflösung und Empfindlichkeit. Der SEM-Modus (Secondary Electron Microscopy) von JSM-6330F eignet sich besonders zur Abbildung von mit Liganden behandelten Strukturen und Molekülen. Seine Auto-Stigmator-Funktion bietet außergewöhnlich niedrige Bildaberrationen, die die Erkennung von Funktionen bis zum Nanometerstand ermöglichen. Der energiefilterte Bildgebungsmodus ermöglicht die Analyse von feinen Oberflächenmerkmalen wie kristallinen Strukturen mit einer Auflösung von bis zu 50 nm. JEOL JSM 6330 F kann auch im variablen Druckmodus (VP) betrieben werden und ermöglicht die Abbildung nichtleitender Proben, die durch Elektronenbeschuss in einem herkömmlichen Rasterelektronenmikroskop (SEM) beschädigt werden können. Der VP-Modus kann bis zu einer Atmosphäre von 10-1 mbar durchgeführt werden und bietet eine einzigartige bildgebende Umgebung, in der nichtleitende Proben auch bei Auflösungen bis zu 10 nm beobachtet werden können. Schließlich verfügt JEOL JSM 6330F über eine erweiterte Bildverarbeitungssuite mit erweiterten Optionen für die Probenanalyse. Die Bildverarbeitungssoftware ermöglicht eine automatisierte Bildanalyse, quantitative Bildanalyse, 3D-Rekonstruktionen und andere Arten der automatisierten Analyse. Es ermöglicht auch eine interaktive Analyse von Proben mit einer schnellen Rekonstruktionsgeschwindigkeit. Insgesamt ist JEOL JSM-6330F ein extrem leistungsstarkes und vielseitiges SEM, das in der Lage ist, qualitativ hochwertige Bilder in außergewöhnlich hohen Auflösungen mit einer Vielzahl von analytischen Fähigkeiten zu produzieren. Die fortschrittlichen Vakuum-, Heiz- und Bildverarbeitungssysteme machen es zu einer führenden Mikroskopauswahl für Forscher, die am meisten von ihrem Instrument verlangen.