Gebraucht JEOL JSM 6330F #9258244 zu verkaufen

JEOL JSM 6330F ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das Elektronensäulentechnologie verwendet, um eine breite Palette von Techniken wie Bildanalyse, elementare oder chemische analytische Arbeit und dreidimensionale Oberflächenprofilierung unterzubringen. Es ist für die Nanometer-Skalenbildgebung und -analyse von Oberflächen mit einer Bildauflösung von bis zu 1 nm ausgelegt. Die Elektronensäule ist eine leistungsstarke Dreifeld-Emissionsquelle mit zwei Geschützsäulen und einer separaten Elektronenoptiksäule. Dies ermöglicht eine Hochgeschwindigkeitsabtastung mit unterschiedlichen Strahlenergien, die für die Erzeugung hochwertiger Bilder sowie für die chemische Analyse und Messung erforderlich ist. Das SEM verfügt über eine hochauflösende CCD-Kamera und Detektoren mit variabler Intensität zur Aufnahme von SEM-Bildern. Das Mikroskop ist auch mit einer breiten Palette von analytischen und bildgebenden Fähigkeiten ausgestattet. Dazu gehören die Rückstreuelektronen (BSE) -Bildgebung, mit der die verschiedenen Elemente einer Probe identifiziert werden können, sowie Röntgen- und energiedispersive Spektroskopie (EDS) -Analysetechniken, die in der Lage sind, die chemische Zusammensetzung von Proben zu detektieren und zu messen. Darüber hinaus ist JEOL JSM-6330F mit einem computergesteuerten Bühnensystem ausgestattet, das eine präzise automatisierte und manuelle Bewegung der Probe während des Bildgebungsprozesses ermöglicht. Die Software umfasst auch automatisierte Funktionen für Parametereinstellung, Bildaufnahme und -analyse sowie automatisierte Anpassung des Bildkontrasts und der Helligkeit. Das Mikroskop umfasst auch eine erweiterte 3D-Modellbau-Fähigkeit, die für die Erstellung detaillierter 3D-Modelle von Proben verwendet werden kann. Die Modellbau-Software bietet dem Benutzer eine Schnittstelle, um schnell hochauflösende 3D-Modelle zu erstellen. Die 3D-Modelle können dann zur Visualisierung einer Probe sowie zur weiteren Analyse verwendet werden. Alles in allem ist JSM 6330 F SEM ein leistungsstarkes Werkzeug zur Bildgebung und Analyse von Nanometerskalenmerkmalen. Es verfügt über eine breite Palette von bildgebenden und analytischen Fähigkeiten, einschließlich fortschrittlicher Bildverarbeitung und 3D-Modellierungsfunktionen, die es zu einem idealen Werkzeug für Forscher machen, die nanoskalige Materialien studieren.