Gebraucht JEOL JSM 6330F #9288334 zu verkaufen

JEOL JSM 6330F ist ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop (SEM), das beispiellose bildgebende Fähigkeiten bietet. Dieses hochmoderne Instrument verwendet Sekundärelektronen (SE), Rückstreuelektronen (BSE), Sekundärelektronenbildverbunde (SEIC) und eine variable Konvergenzwinkeltechnik für verbesserte Auflösung und Bildkontrast. Eines der Merkmale von JEOL JSM-6330F, das es von anderen SEMs unterscheidet, ist sein großes Sichtfeld mit einem Scan-Modus von bis zu 20x bis zu einer maximalen Auflösung von 1 μ m. Dies erweitert den Umfang der Bildgebung erheblich und ermöglicht es Benutzern, Bilder von größeren, komplizierteren Proben im bestmöglichen Detail zu erfassen. Darüber hinaus kommt JSM 6330 F mit einem Auto-Fokus-Detektor, der sich schnell ohne Eingriff des Benutzers neu ausrichtet und die maximale Bildgenauigkeit gewährleistet. JSM-6330F verfügt über eine Elektronensäule, die mit einer von fünf Beschleunigungsspannungen von 5kV bis 30kV arbeiten kann. Dies erleichtert die Untersuchung einer Vielzahl von Probentypen, von organischen, leichten Materialien bis hin zu großen und kleinen Metalllegierungen. Durch die Einstellung der Betriebsspannung können feinere und schärfere Details in einer Probe mit minimalem Risiko von Unfallschäden identifiziert werden. Das Instrument ist so konzipiert, dass es maximale Vielseitigkeit bietet und dennoch einfach zu bedienen ist. Mit einer intuitiven Benutzeroberfläche und einer automatisierten Probenstufe richtet JEOL JSM 6330 F die Probe schnell und zuverlässig für Analyse und Ausrichtung ein und richtet sie aus. Es verfügt auch über automatisierte Funktionen wie Partikelzählung, um zusätzliche Einblicke in eine Probe zu geben. Weitere Merkmale von JSM- 6330F sind ein Vakuumsystem mit einer Schrupppumpe, ein integriertes Probenkühlsystem zur Vermeidung von Schäden an der Probe und ein Ionenemissionsdetektor für ein verbessertes Signal-Hintergrund-Rauschverhältnis. All dies macht JEOL JSM 6330F zu einem außergewöhnlichen Forschungstool für Wissenschaftler in einer Vielzahl von Bereichen.