Gebraucht JEOL JSM 6335F #293609259 zu verkaufen

JEOL JSM 6335F ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) zur Abbildung von Proben und zur Messung der Oberflächentopographie. Es handelt sich um ein SEM (FE-SEM), das mit einer Cold Field Emission Gun (Cold FEG) für optimale Probenbildgebung und -aufladung ausgestattet ist. Dies ermöglicht einen höheren Elektronenstrom, eine verbesserte Auflösung und eine größere Flexibilität beim Zugriff auf verschiedene Arten von Probenmaterialien. JSM 6335F ist mit einer variablen Druck Ultra-Hochvakuum-Rasterelektronensäule ausgestattet, die einen variablen Druckbereich von 0,1 bis 0,09 Pa. bietet. Dieses Navigationssystem bietet außergewöhnliche Navigationseigenschaften mit der Präzision von 0,05 um bei einem Objektivabstand von 10 mm. Darüber hinaus verfügt das SEM über eine automatisierte Ablenkbarkeit mit einer digitalen Signalprozessorsteuerung (DSP), die es dem Benutzer ermöglicht, komplexe und anspruchsvolle Beispielanalyseszenarien anzugehen. Dieses SEM ist mit mehreren Analysemerkmalen konzipiert, einschließlich elementarer und chemischer Analyse, Röntgenbildgebung und Kartierung, elektronen- und photoneninduzierter sekundärer Elektronenbildgebung und Röntgenenergie-Dispersionsspektroskopie (XEDS). Darüber hinaus ist dieses SEM mit einer ganzen Reihe von analytischen Werkzeugen ausgestattet, darunter Backscatter Electron Diffraction (BSED), High Resolution Backscattering Electron (HRBE) Imaging, Pole Figure Imaging (PFI) für Texturanalyse und Low Voltage Backscatter Electron (Vaging). JEOL JSM 6335F ist kompatibel mit einer Vielzahl von Probenhaltern für Proben von dünnen Filmstrukturen bis hin zu getrockneten biologischen Proben sowie verschiedenen Proben verschiedener Geometrien und Größen. Darüber hinaus umfasst das SEM einen Lichtfelddetektor (BF), einen Dunkelfelddetektor (DF) und einen LWD-Detektor (Long Working Distance), der eine Probe in einem Abstand von bis zu 4 Millimetern abbilden kann. JSM 6335F SEM hat eine Arbeitskammer von 300 × 300 mm und kann Probengrößen bis 180 mm Durchmesser handhaben. JEOL JSM 6335F ist ein zuverlässiges und effizientes SEM, das Anwendern genaue und detaillierte Bilder liefert. Das Gesamtdesign des 6335F bietet Flexibilität und überlegene Bildgebungsfunktionen, die es zu einem idealen SEM für eine Vielzahl von Anwendungen machen, von der Forschung bis zur Industrie.