Gebraucht JEOL JSM 6335F #293632500 zu verkaufen

JEOL JSM 6335F ist ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop (SEM) mit modernsten Funktionen, die Laborforschern leistungsstarke Bildgebungs- und Analysefähigkeiten bieten. Dieses leistungsstarke SEM ist sehr vielseitig einsetzbar, so dass eine breite Palette von Proben untersucht und analysiert werden kann. JSM 6335F verfügt über eine große Arbeitskammer, die etwa 200mm im Durchmesser und 200mm in der Tiefe ist, so dass große und komplexe Proben untersucht werden können. Proben bis 200 Millimeter Größe können mit einer maximalen Beschleunigungsspannung von 30kV abgebildet werden. Der Standard-Probentisch kann bis zu 250 Kilogramm aufnehmen und optional stehen Kaltstufen und Kühlstufen zur Untersuchung von kryogenen Proben zur Verfügung. JEOL JSM 6335F ist auch mit einem SEM-Objektiv mit einem hochauflösenden Sichtfeld bis zu 10nm ausgestattet. Dieses Linsensystem bietet enormen Bildkontrast und Schärfe und erzeugt detaillierte Bilder von kleinen Merkmalen sowohl in leitfähigen als auch in nicht leitfähigen Proben. Das Instrument weist außerdem einen Rückstreuelektronendetektor (BSD) auf, der eine verbesserte Kontrastabbildung bei der Untersuchung nichtleitender Proben ermöglicht. JSM 6335F Spannungsregelung und Geschützeinheit ermöglichen eine außergewöhnlich feine Einstellung von Beschleunigungsspannung, Sondenstrom und Helligkeit. Die Maschine verfügt auch über fortschrittliche Energiefilterung, so dass die Analyse der Zusammensetzung Elemente in dünnen Schichten von Proben. JEOL JSM 6335F verfügt über eine Reihe von Software-Tools zur Datenerfassung, -analyse und -speicherung. Diese Software umfasst erweiterte Funktionen zur Bildgebung, Erkennung und Quantifizierung, um einen unübertroffenen Detaillierungsgrad für die Probenauswertung zu ermöglichen. Alle erfassten Daten können für zukünftige Analysen gespeichert werden. JSM 6335F ist das perfekte Instrument für jedes Labor oder jede Forschungseinrichtung, das nach einem vielseitigen und leistungsstarken SEM sucht. Seine erweiterten Funktionen bieten verbesserte Bildgebungs- und Analysefunktionen, die Daten höchster Qualität und möglichst genaue Ergebnisse ermöglichen.