Gebraucht JEOL JSM 6335F #293670418 zu verkaufen

ID: 293670418
Weinlese: 2001
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM) 2001 vintage.
JEOL JSM 6335F ist ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop (SEM) mit ausgezeichneter Geschwindigkeit und Auflösung. Im Vergleich zu herkömmlichen SEMs bietet JSM 6335F ein erhöhtes Sichtfeld und verbesserte Bildgebungsfunktionen. Das Gerät ist mit einem Wolfram-Filament und Spannungspotentialen bis zu 30 kV ausgestattet, so dass hochauflösende Bildgebung und die Fähigkeit, feine Details zu erkennen. Es verfügt auch über einen hochauflösenden Monochromator und ein Ferngrenzen-Segment-Bildgebungssystem, das das Rauschen erheblich reduziert. Zusätzlich ist das Gerät mit einer Feldemissionskanone ausgestattet, die den Lärm weiter reduziert und die Auflösung erhöht. Die Maschine nutzt eine vierachsige Manipulationssoftware, die eine intuitive und präzise Steuerung der Bild- und Navigationsfunktionen des Werkzeugs ermöglicht. Dazu gehören Feinneigung, Nullneigungskompensation, Quernavigation, Vergrößerungseinstellung und verschiedene andere Funktionen. JEOL JSM 6335F verfügt über eine breite Palette von Zubehör zusätzlich zu den oben genannten Funktionen. Dazu gehören hochempfindliche Detektoren (Gesichts-, Sekundär- und Backscatter-Detektoren), ein Low-Vacuum-Asset, ein Umwelt-SEM-Modell, ein optischer Mikroskopaufsatz, eine Digitalkamera (einschließlich Infrarot- und Ultraviolett-Fähigkeiten), ein Widerstandsmessgerät und ein Kornquantifizierungssystem. Das Gerät ist in der Lage, Stereo-Bildgebung sowie Messproben bis zu 200 Mikrometer durchzuführen. Darüber hinaus kann es mehrere Elemente gleichzeitig analysieren und bietet eine detaillierte 3D-Abbildung von Proben für eine Vielzahl von Zwecken. Schließlich bietet JSM 6335F erweiterte Software- und Datenanalysefunktionen, einschließlich fortgeschrittener bildgebender Rekonstruktion, katastraler Kartierung, histologischer Oberflächenentfernung, automatischer Kornquantifizierung sowie automatischer taktiler Navigation. Abschließend ist JEOL JSM 6335F ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop, das eine verbesserte Bildgebungsleistung und eine überlegene Auflösung bietet. Darüber hinaus ist es mit einer Vielzahl von Zubehör und erweiterten Softwarefunktionen für eine Reihe von Anwendungen ausgestattet.
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