Gebraucht JEOL JSM 6335F #293671409 zu verkaufen

JEOL JSM 6335F ist ein Desktop-Rasterelektronenmikroskop (SEM), das ein kompaktes Design und erweiterte Bildgebungsfunktionen kombiniert. Es verwendet eine Thermionic Field Emission Gun (TFEG) Spalte, die eine hohe Auflösung von hochwertigen Bildern bietet. Dieses SEM kann für eine Vielzahl von Materialien verwendet werden, von isolierenden bis zu leitfähigen Proben. Es verwendet eine 5-Kanal-Eingangsstufe mit zwei Kathoden und einem Dual-Achsen-Autofokus-Gerät, um ein hohes Leistungsniveau zu erreichen. Dieses SEM verfügt außerdem über einen hochauflösenden Elektronendetektor, eine rauscharme Stromversorgung und eine mit Stickstoff gefüllte Druckkammer für verbesserte Bildqualität. Der digitale Signalprozessor des SEM ermöglicht verbesserte Bilderzeugungs- und Rauschreduktionsalgorithmen, die die Mehrdeutigkeit zwischen Signal und Zufallsrauschen verringern und ein klares Bild liefern. JEOL 6335F verfügt außerdem über einen digitalen Lader, mit dem Vorschaubilder mit automatisiertem Workflow angezeigt werden können. Die Software des Geräts umfasst eine Vielzahl von Bildverarbeitungsfunktionen wie automatische Bilddrehung, Kontrasteinstellung, Spiegelbildgebung, Maßmessung und Zeilenauswahl. Es verfügt auch über eine automatisierte Messfunktion, die es dem Bediener ermöglicht, Informationen über die Größe und Form von Proben zu erhalten. JEOL 6335F SEM verfügt über ein System zur Erkennung niedriger Spannungen, das eine hohe Bildoptimierung ermöglicht. Dieses Gerät ermöglicht auch die automatische Einstellung von Verweilzeit und Energie, um dem Benutzer konsistente Ergebnisse zu liefern. Die Maschine verfügt über eine breite Palette von Zubehör wie Musterhalter, Stufen und Ziele, die mit einer Vielzahl von Anwendungszwecken kompatibel sind, so dass es für eine Reihe von Forschungszwecken geeignet ist. Das SEM ist auch mit einer benutzerfreundlichen Oberfläche konzipiert, die eine einfache Erfassung von Informationen ermöglicht. Insgesamt ist JSM 6335F ein zuverlässiges und genaues Rasterelektronenmikroskop, das eine ausgezeichnete Bildqualität und eine breite Palette von Fähigkeiten bietet. Die zuverlässige Leistung, das kompakte Design und die benutzerfreundlichen Funktionen machen es zu einer idealen Wahl für eine Vielzahl von Anwendungen in der Materialforschung.