Gebraucht JEOL JSM 6335F #293744719 zu verkaufen

JEOL JSM 6335F ist ein hochauflösendes, analytisches Elektronenabbildungssystem, das eine detaillierte Analyse der Oberflächen und der inneren Strukturen einer Vielzahl organischer und anorganischer Materialien ermöglicht. Dieses benchtop SEM Gerät ist mit einer großen Kammer ausgestattet, die dem Techniker einen großen Arbeitsraum für Probenmanipulation und -beobachtung bietet. Die EverHigh Röntgenquelle bietet mehr Stabilität und Zuverlässigkeit im Vergleich zu früheren Modellen. JSM 6335F wird standardmäßig mit einem Sekundärelektronendetektor in der Linse und einem High-End-Rückstreudetektor geliefert, der Partikel über einen weiten Winkel detektieren kann. Der Sekundärelektronendetektor ermöglicht es dem Benutzer, topographische Oberflächenmerkmale der Probe sehr detailliert zu erfassen, während der Rückstreudetektor eine Analyse der Probenzusammensetzung und die Querschnittsabbildung von eingebetteten Strukturen ermöglicht. Das SEM verfügt auch über ein fokussiertes Ionenstrahl (FIB) Scanning/Scanning Transmission Electron Microscope (STEM), das eine feinmaßstäbliche Abbildung von biologischen Proben, einschließlich Weichteilen, ermöglicht. Dieses FIB-Scansystem verfügt über ein spezielles Spaltendesign der 3. Generation, das seine Leistung in Bezug auf Genauigkeit, Auflösung und Vergrößerung erhöht. Das integrierte energiedispersive Röntgenspektrometer ermöglicht die Analyse der elementaren Zusammensetzung der Probe und ermöglicht eine maximale Charakterisierung der Materialschöpfung. JEOL JSM 6335F ist für schnelle und zuverlässige Bildaufnahme konzipiert; mit der Fähigkeit, 2D-Bilder in weniger als 5 Sekunden und Single Shot 3D-Bilder in weniger als 10 Minuten zu erfassen. Das Gerät ist äußerst benutzerfreundlich, mit einem Touchscreen-Bedienfeld, einer intuitiven grafischen Benutzeroberfläche und nützlichen Funktionen wie der Handschrifterkennung. Auch leistungsstarke Werkzeuge wie die Autostage-Funktion ermöglichen eine schnellstmögliche Positionierung und Bearbeitung von Mustern ohne Eingriff des Benutzers. Schließlich macht die Bibliothek der Anwendungen für JSM 6335F das Gerät für eine breite Palette von Anwendungen geeignet, von Metallurgie und Keramik über Chemie und Forschung in der Halbleiter- und Nanotechnologie. Dank seiner vielfältigen Möglichkeiten ist es eine ideale Wahl für die Bildgebung und Analyse von Mikro- und Nanoproben.