Gebraucht JEOL JSM 6335F #293744948 zu verkaufen

JEOL JSM 6335F ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für eine Vielzahl von analytischen bildgebenden und spektroskopischen Zwecken in verschiedenen Disziplinen wie Materialwissenschaft, Umweltanalyse, forensische Wissenschaft, Halbleiter- und Elektronikgeräteanalyse und biologische Anwendungen konzipiert ist. JSM 6335F verfügt über eine Feldemissionskanone, die einen Wolframfaden enthält, der mit drei verschiedenen Beschleunigungsspannungen betrieben werden kann: 0,2 kV, 1,0 kV und 15,0 kV. Die Hochleistungs-Elektronenoptik bietet eine hervorragende Auflösung und einen hohen Kontrast bei sehr niedriger Strahlenergie. Darüber hinaus ermöglichen die elektrischen Linsenstromregler sehr präzise Manipulations- und Verzerrungskorrekturen der Strahlenbahnen. Die maximale Scanfläche des 6335F beträgt 30 x 30 mm. JEOL JSM 6335F bietet eine Vielzahl von bildgebenden Modi, wie sekundäre Elektronenbildgebung (SEI), rückgestreute Elektronenbildgebung (BEI) und röntgenspektroskopische Bildgebung (XSI) mit einem Hochgeschwindigkeits-Energie-dispersiven Röntgenstrahlendetektor (EDX). Mit der energiedispersiven Röntgenspektroskopie (EDS) können Benutzer Elemente identifizieren, die räumliche Verteilung von Elementen schnell analysieren und sogar große Spektren sammeln. Dieses analytische SEM kann je nach Anwendungsfall auch mit verschiedenen Zubehörteilen ausgestattet werden. Ein Argus-Laserkathodolumineszenzsystem ist für die Geo-Referenzierung und das Nähen von großflächigen Bildern verfügbar und kann für die Abbildung von nichtleitenden Materialien verwendet werden. Eine Glimmentladungseinheit kann bis zu 1,5 mA Ströme erzeugen und eignet sich zur Messung des Molekulargewichts und der dynamischen Antriebskraft der Oberflächenreaktion auf Metallen und Halbleitern. Dieses SEM wurde entwickelt, um den Anforderungen der Feldemissionstechnologie gerecht zu werden. Die niedrige Strahlspannung hilft dabei, Probenladungseffekte zu reduzieren und die sekundäre Elektronenerzeugung zu minimieren. Lange Arbeitswege sowie thermische Elektronenunterdrückung erlauben es, auch nichtleitende Materialien abzubilden. Eine verzerrungsreduzierte Detektormaschine trägt der Bewegung der Bühne Rechnung, um einen zuverlässigen, unverzerrten Überblick über die Probe zu gewährleisten. JSM 6335F ist ein leistungsstarkes SEM und bietet Benutzern hochauflösende Bilder von Probenoberflächen und Elementverteilungen. Dieses Instrument ist ein unschätzbares Gerät zur Analyse von Materialien auf Mikro- und Nanoebene.