Gebraucht JEOL JSM 6335F #293751833 zu verkaufen
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ID: 293751833
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM)
SEI Detector
Deben stage
Magnification: 10x - 500000x
Resolution:
15 kV: 1.5 nm (WD 4 mm)
1 kV: 5.0 nm (WD 4 mm).
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