Gebraucht JEOL JSM 6360 #9239437 zu verkaufen
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ID: 9239437
Scanning electron microscope (SEM)
With OXFORD Inca EDS
Includes:
Computer systems
Chiller.
JEOL JSM 6360 ist ein Rasterelektronenmikroskop, das speziell als Feldemissionsrasterelektronenmikroskop (FESEM) klassifiziert ist. Diese Art von Mikroskop wird verwendet, um hochauflösende Bilder einer Vielzahl von Proben zu erzeugen, die von anorganischen Materialien wie Metallen und Halbleitern bis hin zu biologischen Materialien wie Mikroorganismen reichen. Als Rasterelektronenmikroskop ist JSM 6360 in der Lage, detaillierte Bilder der Oberfläche einer Probe zu erzeugen und Informationen über die Oberflächenstruktur und Topographie des Materials bereitzustellen. Dies wird erreicht, indem ein Elektronenstrahl, bestehend aus energiereichen Elektronen, auf die Probe geschossen wird. Die Oberflächenmerkmale der Probe lenken die Elektronen entsprechend ihrer Form und Zusammensetzung ab. Die Elektronen werden von einem internen Detektor detektiert, der ein Bild der Oberfläche der Probe und der Art des Materials erzeugt, aus dem sie zusammengesetzt sind. Im Vergleich zu einem herkömmlichen optischen Mikroskop bietet ein Rasterelektronenmikroskop eine wesentlich höhere Auflösung und Tiefe. Es kann Proben bis zu 500.000 Mal vergrößern und verwendet zwei verschiedene bildgebende Modi, um die Oberfläche der Probe zu erfassen: Oberflächenbildgebung und sekundäre Elektronenbildgebung. Im Oberflächenbildmodus streuen die Elektronen elastisch von der Oberfläche der Probe ab und erzeugen ein detailliertes, dreidimensionales Bild ihrer Topographie. In einem sekundären Elektronenbildmodus dringen die Elektronen in die Oberfläche der Probe ein und interagieren mit der Elektronenwolke des Materials, wodurch Sekundärelektronen entstehen, die dann vom Detektor zurückgewonnen werden. JEOL JSM 6360 verfügt über eine breite Palette von Funktionen zur Verbesserung der Genauigkeit und Effizienz. Dank seiner Feldemissionskanone ist es in der Lage, einen ultrahochauflösenden Strahl von 1 nm zu erzeugen, wodurch Forscher extrem kleine Objekte abbilden können. Darüber hinaus verfügt es über ein automatisiertes Probenaustauschsystem, mit dem Proben schnell und einfach in das System geladen werden können. Insgesamt ist JSM 6360 ein fortschrittliches und vielseitiges Rasterelektronenmikroskop, das hochauflösende Bilder einer Vielzahl von Proben erzeugen kann. Es ist ein unschätzbares Werkzeug für Forscher, um ein besseres Verständnis der Zusammensetzung und Struktur des Materials zu erlangen.
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