Gebraucht JEOL JSM 6360LA #9410470 zu verkaufen

JEOL JSM 6360LA ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das entworfen wurde, um hochauflösende Bilder einer breiten Palette von Oberflächenmaterialien bereitzustellen. JSM 6360LA verwendet eine elektronenoptische Säule, um Elektronen auf eine Probe zu feuern, die von einem Signaldetektor reflektiert und detektiert werden. Diese Technik ermöglicht es dem Mikroskop, Bilder von Proben mit einem enorm hohen Detailgrad zu erzeugen, der nur durch die Auflösung des Signaldetektors begrenzt ist. Die Auflösung von JEOL JSM 6360LA ist hoch für seine Klasse, so dass für Bilder, die so detailreich sind, wie es bekommt. Dies liegt an seinem einzigartigen Signalerfassungssystem, das eine rauscharme elektronenoptische Säule mit hoher Transmission umfasst, die hochdifferenzierte Elektronenstrahlen erzeugt. Das Basismodell hat eine Mindestauflösung von 3,2 nm, obwohl die höchste Auflösungsversion von JSM 6360LA eine Auflösung von bis zu 0,7 nm erzeugen kann. JEOL JSM 6360LA ist ein vielseitiges Werkzeug zur Abbildung von Oberflächen. Es ist in der Lage, eine breite Palette von Bildern zu erzeugen, wie hochvergrößerte Oberflächenbilder, elementare Analysebilder (mit Hilfe eines energiedispersiven Systems) und sekundäre Elektronenbilder. Es kann auch Oberflächentopographiebilder erzeugen, die die Oberflächenstruktur einer Probe sowie deren elementare Zusammensetzung aufzeigen. Darüber hinaus ist die 6360LA in der Lage, Proben mit relativ niedrigen Probenströmen - oft im Bereich von Zehnteln eines Nanoverstärkers - abzubilden, wodurch das Risiko einer Aufladung beseitigt wird, was bei vielen SEMs häufig vorkommt. Ein weiteres Merkmal von JSM 6360LA ist die Möglichkeit, den Elektronenstrahl während der Bildgebung zu steuern und zu überwachen, was manuell oder über Computerprogramme erfolgen kann. Dies ermöglicht eine präzise Kontrolle der bildgebenden Bedingungen und kann dazu beitragen, eine möglichst hohe Auflösung zu erreichen. Darüber hinaus kann die 6360LA zur In-situ-Beobachtung unter Vakuum verwendet werden und ist mit einer Vielzahl von Probenhaltern kompatibel, um eine Vielzahl von Analysetechniken durchzuführen. Schließlich ist JEOL JSM 6360LA ein leistungsstarkes Rastermikroskop für die Abbildung von Oberflächen mit einer möglichst hohen Auflösung. Sein einzigartiges Signalerfassungssystem sowie die Fähigkeit, den Elektronenstrahl zu überwachen und zu steuern, machen ihn zu einem sehr vielseitigen Werkzeug.