Gebraucht JEOL JSM 6360LV #293799326 zu verkaufen

JEOL JSM 6360LV Rasterelektronenmikroskop (SEM) ist ein leistungsfähiges Werkzeug für die Bildgebung und Analyse in einer Vielzahl von wissenschaftlichen Bereichen verwendet. Es verfügt über eine Cold Field Emission Gun (CFEG), die hohe Strahlströme und eine hohe Strahlstabilität liefert. Dieses SEM hat auch ein niedriges Vakuum (LV) -Vermögen, das es ermöglicht, Proben bei atmosphärischem Tunneldruck zu sehen. JSM 6360LV erzeugt einen Vergrößerungsbereich von bis zu 100.000x, mit einem Beschleunigungsspannungsbereich von 3 kV bis zu 30 kV. Mit den richtigen Einstellungen und einer geeigneten Probenstufe können Auflösungen bis zu 0,24 nm erreicht werden. Neben seinen bildgebenden Fähigkeiten können eine Reihe von Analysetechniken und Detektoren mit dem SEM gekoppelt werden, wie die energiedispersive Röntgen- (EDX) -Spektroskopie und die Elektronen-Backscatter-Beugung (EBSD). JEOL JSM 6360LV, ausgestattet mit EverHIGH Image-Systemen, ermöglicht automatisierte Niedervakuum-Bildgebung in Echtzeit und Spektrometrien. Dieses System ist in der Lage, dem Benutzer schnelle und genaue Informationen zur Verfügung zu stellen, während Probenschäden durch den Elektronenstrahl vermieden werden. Darüber hinaus verfügt JSM 6360LV über einen integrierten 360-Grad-Eintrittsaperturdetektor, der eine multidirektionale Elektronenanalyse ermöglicht. Dies erleichtert die Betrachtung eines breiteren Spektrums von Proben, wie Proben mit unregelmäßiger Oberfläche. Zusätzlich steht eine automatisierte Probenvorrichtung für das Mikroskop zur Verfügung, die eine präzise Probenpositionierung bei automatisierten Kartierungen und Messungen ermöglicht. Ein großes Touchscreen-Bedienfeld bietet benutzerfreundlichen Zugriff auf die Mikroskopeinstellungen, so dass Benutzer das Instrument ganz einfach für ihre Bedürfnisse einrichten können. JEOL JSM 6360LV ermöglicht die Echtzeit-Datenerfassung und digitale Archivierung von Daten auf einem USB-Laufwerk. Die automatisierte Stufe kann zusammen mit Vakuum, digitaler Bildverarbeitung und automatisierten Algorithmen auf Knopfdruck zu verschiedenen Messungen und Analysen ausgelöst werden. Insgesamt bietet JSM 6360LV Rasterelektronenmikroskop viele Funktionen, Vorteile und erweiterte Fähigkeiten. Die Fähigkeit, hochauflösende Bilder zu erhalten, kombiniert mit analytischen Fähigkeiten, macht dieses SEM zu einem idealen Werkzeug für viele Anwendungen.