Gebraucht JEOL JSM 6360LV #293819522 zu verkaufen

JEOL JSM 6360LV ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das hohe Leistung mit Erschwinglichkeit für eine Vielzahl von Anwendungen kombiniert. Das SEM ist in der Lage, kontrastreiche, hochauflösende Bilder von Merkmalen mit einem minimalen Strahldurchmesser von 0,8 nm zu erzeugen. JSM 6360LV nutzt eine Reihe von Scan-Modi, einschließlich Rasterübertragungselektronenmikroskopie (STEM) und energiedispersive Röntgenstrahlung (EDX), und bietet einen Beschleunigungsspannungsbereich bis zu 30 kV mit einer Sub-Nanometer-Auflösung. Das 6360LV verfügt über JEOL renommierte DualBeam™ Technologie, so dass der Benutzer sowohl fokussierte Ionenstrahlen (FIB) und sekundäre Elektronenbildgebung (SEI) gleichzeitig durchführen. Die Kombination dieser Techniken ermöglicht es dem Anwender, sowohl Bildgebung als auch Mikrofräsen gleichzeitig durchzuführen und wertvolle Einblicke in die Struktur und Zusammensetzung einer Probe zu gewähren. Das 6360LV verfügt zudem über eine mikromechanische Rückfokus-Einstellung zur hochauflösenden Abbildung verschiedener Proben. Zusätzlich ist das Mikroskop mit einer allgemeinen Probenstufe (GSS) für verschiedenste Probenanforderungen, wie hochpräzise Korrekturen, ausgestattet. Dieses Modell hat auch einen variablen Druck FE-SEM, der eine hochauflösende Abbildung von zerbrechlichen oder empfindlichen Proben ermöglicht. Der veränderliche Druck wird erreicht, indem der bezeichnete Kammerdruck unabhängig gesteuert wird, so dass Proben unter variablen Bedingungen abgebildet werden können. Bild- und Signalverarbeitungsteile sind enthalten, wie eine Erhöhung des Signal-Rausch-Verhältnisses und eine Verbesserung der Bildauflösung. Das 6360LV ist auch mit einem optionalen vollintegrierten digitalen Signalprozessor (DSP) ausgestattet, einschließlich dedizierter Software, wodurch eine präzise, reproduzierbare Bildgebung und Messung einfacher zu steuern und zu warten ist. Die Datenerfassung wird durch ein fortschrittliches digitales Signalverarbeitungssystem verbessert, das Rauschen reduziert und eine Erhöhung der Signale mit verbesserter Abtastdatenqualität bewirkt. Insgesamt ist JEOL JSM 6360LV ein kostengünstiges und zuverlässiges Instrument, das detaillierte Bilder erzeugen kann. Dieses Modell eignet sich für eine Reihe von Branchen, von der Materialwissenschaft bis zur Life Science, aufgrund seiner Palette von fortschrittlichen Funktionen und Verarbeitungsfähigkeiten. Das Mikroskop kombiniert eine Reihe von Funktionen in einem Gerät, was die Effizienz der Prüfung erhöht und ein vielseitiges SEM-System bereitstellt.