Gebraucht JEOL JSM 6360LV #9373179 zu verkaufen

JEOL JSM 6300LV Scanning Electron Microscope (SEM) ist ein hochauflösendes Instrument zur Bildgebung, Elementaranalyse und Röntgenmikroanalyse. Dieses vielseitige SEM ermöglicht sowohl Nieder- als auch Hochvakuumbetrieb und verfügt über eine einzigartige Niederspannungsfähigkeit von 1 - 15 keV, was die Beobachtung von Proben mit minimalen Schäden im Sekundär- und Rückstreuelektronen (BSE) -Bildgebungsmodus erleichtert. Zu den Instrumentendetails gehören ein 5 nm Punktkonvergenzwinkel, 25 kV Feldemissionselektronenquelle, 20 W kleiner Punktdurchmesser bis 0,3 μ m, 5W K β Röntgenquelle, dreiachsige X/Y/Z-Stufe, 2,5 - 5 kW Spitzenleistung und 15 keV-Betrieb. Die JSM- 6300LV bietet hochauflösende Bildgebung, Elementaranalyse und Röntgenmikroanalyse unterschiedlichster Proben. Die theoretische Auflösung beträgt 0,8 nm für Sekundärelektronen bei einer Gesamtvergrößerung des 1000-fachen, was eine Submikron-Abbildung verschiedener Proben ermöglicht. Dieses SEM beinhaltet auch ein Detektionssystem für simultane simultane Bildgebung und Spektroskopie, das eine schnelle Datenerfassung verspricht. Der Elektronendetektor ermöglicht sowohl obere als auch untere bildgebende Unterstützung und beinhaltet einen 5 keV BSE Detektor zur Abbildung nichtleitender Proben. Ein weiterer in der optischen Achse angebrachter Elektronendetektor dient der Verbesserung der rückgestreuten Elektronenbildgebung durch Erhöhung der Empfindlichkeit des Detektors von 5 keV auf 15 keV. Das SEM ist auch in der Lage, sehr niedrige Stromproben abzubilden, einschließlich Feststoffe, Flüssigkeiten und sogar gasförmige Proben. Die Feldemissionsquelle gewährleistet zudem eine stabile und konsistente wiederholbare Leistung. Das fortschrittliche Bildgebungssystem verfügt über mehrere Überwachungsfunktionen. Auf diese Weise können die Operatoren zwischen mehreren Abbildungskonfigurationen wechseln, wodurch die Untersuchung eines breiteren Spektrums von Proben ermöglicht wird. JEOL JSM 6300LV verfügt über einen großen Arbeitsbereich für eine breite Palette von Probengrößen. Es bietet auch eine verstellbare Kammerform, so dass es geeignet ist, in einer Vielzahl von Arbeitseinrichtungen und Aufgaben verwendet werden. Darüber hinaus ist das Instrument mit einer leistungsfähigen Navigations- und Bildverarbeitungssoftware ausgestattet, die komplexe Analysen und die Erstellung von Berichten ermöglicht. Das JSM 6300LV ist ein wertvolles Werkzeug, um in verschiedenen Forschungsbereichen wie Halbleiterforschung, Life Science, Umweltwissenschaften, Geowissenschaften und Materialwissenschaften eingesetzt zu werden, um nur einige zu nennen. Mit seinen vielfältigen Funktionen und niedrigen Betriebsspannungen ist das JSM 6300LV ein ideales Instrument für die Bildgebung, Elementaranalyse und Röntgenmikroanalyse.