Gebraucht JEOL JSM 6380 #293765076 zu verkaufen

JEOL JSM 6380 ist ein Rasterelektronenmikroskop, das mit einem Wolframfaden e-gun arbeitet und eine räumliche Auflösung von 0,25 nm hat. Es verfügt über einen doppelt geneigten Probenhalter mit bis zu 5 Freiheitsgraden und einer Vielzahl von Erkennungen. Es ist in der Lage, zweidimensionale Abbildungen, energiedispersive und wellenlängendispersive Röntgenanalysen sowie elementspezifische Abbildungen durchzuführen. Die Hochleistungs-Wolframfaden-E-Pistole von JSM 6380 erhöht die räumliche Auflösung auf 0,25 nm für maximale Leistung. Dieses System hat auch einen Strahlstrom von 200-300nA und Arbeitsabständen von 600mm bis 1500mm. Die einstellbare Beschleunigungsspannung kann auch auf 30kV eingestellt werden, was eine Vielzahl von Anwendungen ermöglicht, einschließlich Niederspannungsbildern. Der innovative Double-Tilt-Probenhalter ist mit bis zu 5 Freiheitsgraden ausgestattet, inklusive eines praktischen Probenbelade- und Entladesystems. Dadurch kann der Anwender die Probe in die optimale Position relativ zum Elektronenstrahl verschieben, was den Bildkontrast und die Auflösung verbessert. Der Double-Tilt-Probenhalter ermöglicht zudem eine höhere Flexibilität und Sicherheit bei der Probenpositionierung für TEM- oder MINT-Anwendungen. Dieser Halter ist auch mit einer Reihe von Probenmaterial kompatibel, und es können entweder geglühte oder kaltmodifizierte Stufen verwendet werden. JEOL JSM 6380 ist in der Lage, eine breite Palette von Detektionen durchzuführen, einschließlich analytischer Kartierung, energiedispersiver und wellenlängendispersiver Röntgenanalysen und elementspezifischer Bildgebung. Zur Quantifizierung der elementaren Zusammensetzung der Probe kann ein analytisches Mapping eingesetzt werden, während mit energiedispersiven Röntgenanalysen ermittelt werden kann, welche Elemente im Analysebereich vorhanden sind. Wellenlängen-dispersive Röntgenanalysen können zur Bestimmung der chemischen Eigenschaften der Probe verwendet werden, während die elementspezifische Bildgebung die atomare Struktur und Zusammensetzung der Probe entschlüsselt. Insgesamt ist JSM 6380 ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop, das eine breite Palette von Funktionen bietet. Seine Hochleistungs-Wolframfaden E-Pistole bietet eine Auflösung von 0,25 nm, während seine doppelte Neigung Probe Halter ermöglicht bis zu 5 Freiheitsgrade. Es ist auch in der Lage, eine Reihe von Detektionen durchzuführen, sowie elementspezifische Bildgebung, so dass es eine gute Wahl für die Materialforschung.