Gebraucht JEOL JSM 6380A #293635056 zu verkaufen

JEOL JSM 6380A ist ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop (SEM), das in der Lage ist, die Struktur und Zusammensetzung einer Vielzahl von Proben abzubilden und zu analysieren. Es basiert auf einer Plattform von High-End-Komponenten, die den wissenschaftlichen Standards für die Rasterelektronenmikroskopie entsprechen und ein hohes Leistungsniveau bieten, das für eine Reihe von analytischen Anwendungen geeignet ist. Das Instrument beherbergt eine Elektronensäule mit einer Wolframfadenquelle, die bis zu 15 keV Strahlenergie liefert. Um detaillierte Bilder bei einer Vielzahl von Vergrößerungen zu erzeugen, erzeugen der keramische Sekundärelektronendetektor, der Elektronenrückstreudetektor und das energiedispersive Röntgenspektrometer (EDS) einen Kontrastverstärker zur Verbesserung von Kontrast und Auflösung. Eine Umweltsteuereinheit sorgt für eine stabile Temperatur und Feuchtigkeit, die beide an die Anforderungen der betrachteten Probe angepasst werden können. JSM 6380A scannt bei einer niedrigen Beschleunigungsspannung von bis zu 1 keV und ermöglicht so die Abbildung von nichtleitenden Proben wie biologischen Organismen und organischen Materialien. Das variable Kontrastanalysesystem (VCAS) ermöglicht auch Bildgebung in einer Vielzahl von wahren Farben, einschließlich der Möglichkeit, falsche Farbbilder zu erstellen. Das Mikroskop bietet auch erweiterte Softwarefunktionen, einschließlich digitaler Parameter zum Festlegen von Kontrast und Helligkeit, zusätzliche Erkennungskapazität zum einfachen Vergrößern von Merkmalen von Interesse und mehr. Darüber hinaus kann die Probenkammer kontinuierlich gepumpt werden, um Verunreinigungen zu reduzieren und einen hervorragenden Kontrast aufrechtzuerhalten, ein Merkmal, das für die Produktentwicklung und die Routinekontrolle wesentlich ist. Das eingebaute Umweltschutzsystem schützt vor Staub und anderen Partikeln, sorgt für saubere Proben und sorgt für präzise Bildgebung. JEOL JSM 6380A bietet fortschrittliche Analysetechniken für eine Vielzahl von Probentypen. Seine hohe Geschwindigkeit, Zuverlässigkeit und präzise Ergebnisse machen es zu einem vielseitigen Werkzeug für die hochauflösende Bildgebung und Analyse von Materialien. Dieses SEM ist von unschätzbarem Wert für Forschungs- und Produktionsanwendungen, die Zusammenführung von Qualität, Effizienz und Instandhaltung.