Gebraucht JEOL JSM 6380LA #293617188 zu verkaufen

JEOL JSM 6380LA Rasterelektronenmikroskop (SEM) ist ein führendes Instrument, das überlegene Leistung für mikroskopische Forschung und Analyse bietet. Es wurde speziell für Materialwissenschaften, Biologie und industrielle Anwendungen entwickelt und umfasst einen einzigartigen digitalen hochauflösenden optischen Sensor und einen digitalen Hochgeschwindigkeits-Signalprozessor, der eine Bildinterpretation bei unglaublich hoher Auflösung und Detailtreue ermöglicht. JSM 6380LA verwendet eine Kombination aus ausgeklügelter Detektions- und Signalverarbeitungstechnologie, um Bilder mit hoher Vergrößerung und Kontrast zu erzeugen. Es ist mit einem winkelarmen Dunkelfelddetektor, einem ringförmigen Dunkelfelddetektor und einem Mittelwinkel-Dunkelfelddetektor ausgestattet. Der Dunkelfelddetektor mit niedrigem Winkel ermöglicht eine schnellere und einfachere Bildaufnahme, während der ringförmige Dunkelfelddetektor und der Dunkelfelddetektor mit mittlerem Winkel Bilder mit höherer Auflösung ermöglichen. JEOL JSM 6380LA hat auch eine Biprisma-Säule, die die Beobachtung von empfindlichen oder feinen Strukturen ermöglicht. Das System ist in der Lage, in konventionellen oder Hochvakuum-Modi zu arbeiten, so dass Forscher sowohl Nieder- als auch Hochvakuum-Studien durchführen können. Es verfügt über einen Scan-Bereich von 1-100kV, ermöglicht die Einstellung einer beliebigen Kombination von Druck, Beschleunigungsspannung und Bewegungsrate, um die höchsten Auflösungsstufen zu erhalten. Der digitale optische Sensor enthält 8 Megapixel, was ihm die Möglichkeit gibt, detaillierte Bilder von Strukturen zu erfassen, die so klein sind wie ein Hundertstel Millimeter. Diese hohe Bildaufnahme ermöglicht es Wissenschaftlern, Zellorganellen, Mikrostrukturen und andere Miniaturproben zu untersuchen. Das System verfügt außerdem über einen eingebauten digitalen Signalprozessor, der eine digitale Datenspeicherung und Manipulation analoger Signale in digitale Signale ermöglicht. JSM 6380LA enthält weitere Funktionen, um seine Bildanalysefunktionen weiter zu verbessern. Es umfasst drei Arten von Bildanzeigemodi: helles Feld, Rückstreuung und differentiellen Kontrast, so dass die Analyse von Proben in einer Vielzahl von Bedingungen. Das System verfügt auch über eine umfassende Reihe von Softwareanwendungen für die Benutzersteuerung, Automatisierung und Offline-Analyse, die Forschern mehrere Werkzeuge zur Verfügung stellt, um hochgenaue und detaillierte Bildgebungsergebnisse zu erzielen. Zusammenfassend ist JEOL JSM 6380LA ein leistungsstarkes Rasterelektronenmikroskop, das hervorragende Leistung für wissenschaftliche und industrielle bildgebende Anwendungen bietet. Die Kombination aus hochwertiger optischer Technologie und Bildverarbeitung und Manipulationsmöglichkeiten eignet sich hervorragend für die fortgeschrittene Analyse von mikroskopischen und nanoskaligen Proben.